Gebraucht DCG SYSTEMS / CREDENCE EmiScope I #9118942 zu verkaufen

DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope I ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die die neueste Generation der bildgebenden Technologie und der Materialtechnik zur Inspektion und Untersuchung von Halbleitermasken und Wafersubstraten verwendet. Dadurch lassen sich etwaige Oberflächenfehler und Unregelmäßigkeiten erkennen, die sich aus Produktions-, Verpackungs- oder Versandvorgängen ergeben. CREDENCE EmiScope I System ist mit einer ultrahochauflösenden Digitalkamera ausgestattet, die Bilder von Masken- und Waferoberflächen aus bis zu drei verschiedenen Winkeln aufnimmt und eine detaillierte Analyse des Profils, der mikroskopischen Detailtiefe und der Erkennung von Defekten ermöglicht. Die Software des Geräts bietet automatisierte Fehlererkennung und Reparaturen, die eine schnelle Bildgebung, Erkennung und Reparatur von Fehlern ermöglichen. Automatisierte Anpassungseigenschaften der Oberfläche im Fokus und automatisierte Defektentdeckungsfähigkeiten werden auch eingeschlossen, es möglich machend, Standardmikroskopziele, xyz Stadien und automatisierte Anordnungssysteme zu verwenden, um Bilder auszurichten. DCG SYSTEMS EmiScope I Maschine bietet Daten in mehreren Formaten erfasst: Monoplane Film; Stereofilm; multipolare/mehrfache Bilder; Polarleistungsbild; und einen Fehlersucher, der Produktionsfehler innerhalb eines bestimmten Bereichs erkennen kann. EmiScope I wird von Windows XP Professional betrieben. Dies ermöglicht die grafische Benutzeroberfläche (GUI) für die Ausführung von Programmen wie der 'Defect Analysis Toolbox', die die Diagnose, Analyse und Interpretation von Oberflächen- oder Waferfehlern ermöglicht, die durch das Inspektionswerkzeug identifiziert wurden. Eine softwarebasierte Videokamera ermöglicht es Benutzern, Substratbewegungen und Defekte in Echtzeit zu überwachen. DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope I Inspection Asset ist ideal für den Einsatz in einer Vielzahl von Einstellungen wie Forschung und Entwicklung, Labors, Produktionseinstellungen und Bildungseinrichtungen. Es hat einen kompakten, modularen Aufbau, der es leicht transportabel macht und für jede Anwendung konfiguriert werden kann. Darüber hinaus ist es mit einem ergonomischen Design gebaut, so dass es einfach zu bedienen und einrichten. CREDENCE EmiScope I Mask und Wafer Inspection Model ist ein leistungsstarkes, benutzerfreundliches und kostengünstiges Werkzeug zur Erkennung und Reparatur von Defekten in Substraten. Das Gerät ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Masken- und Waferoberflächen zu erfassen und verfügt über eine leistungsstarke Software, die in der Lage ist, alle entstandenen Fehler genau zu diagnostizieren, zu analysieren und zu interpretieren. Das ergonomische Design des Systems und seine Kompatibilität mit Windows und Macintosh Computersystemen machen es ideal für den Einsatz in Labors, Forschung und Entwicklung und in Bildungseinrichtungen.