Gebraucht DIRECT OPTICAL ZX-1 Mini #127986 zu verkaufen

ID: 127986
Zoom interferometer Specifications: Bare fiber holder chuck with X/Y/Z and tilt micrometers Radius of curvature: Reproducibility: 1 sigma: 0.25% Repeatability: 1 sigma: 0.10% Apex offset: Reproducibility: 1 sigma: 2.0µm Repeatability: 1 sigma: 0.5µm Fiber height: Reproducibility: 1 sigma: 1.5 nm Repeatability: 1 sigma: 1.0 nm Radius of curvature: 3mm Flat Apex offset: 0-500µm (value calculated if outside of captured frame) Fiber height: ± 6µm (with extended range option) MICHELSON Interferometer (non-contact system) Measurement Speed: less than 1 second Magnification: X85 to X550 using 12" monitor X60 to X400 using a 15" XGA monitor and the digital zoom turned off Operating wavelengths: 665nm (545nm with extended range) Power requirements: 100 to 120V AC, 50 / 60Hz.
DIRECT OPTICAL ZX-1 Mini ist eine präzise optische Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung ideal für den Einsatz in der Halbleiterherstellung. Das System wurde mit modernster Technologie entwickelt, um hochgenaue Messungen durch Analyse der Form und Topologie der zu inspizierenden Masken oder Wafer zu ermöglichen. Die hochempfindliche Einheit verfügt über die neueste optische Technologie mit einer einzigartigen, driftstabilen Beleuchtungsmaschine, die maximale Bildqualität und Genauigkeit gewährleistet. Das projizierte Linienmuster wird durch das zweikanalige Liniendetektionsverfahren des Werkzeugs aufgelöst, was eine äußerst genaue Messung des Geräteprofils gewährleistet. Mit seiner rauscharmen Bildgebung und der Verbesserung der digitalen Kanten kann das Asset leicht Artefakte und andere Defekte erkennen. Im optischen Design verwendet das Modell eine Objektivlinse Dual Column, die auf einer drehbaren Plattform montiert ist und eine breite Palette von Vergrößerungen bietet. Die Kombination beider Säulenlinsen ermöglicht es dem Gerät, die mikrostrukturierte Gerätetopographie mit hoher Genauigkeit zu überprüfen und liefert die für die Erkennung von kontrastarmen Defekten erforderliche Präzision. Darüber hinaus verwendet das System ein Dual Field Imaging-Ausrichtverfahren zur schnellen und genauen Zentrierung der geprüften Geräte. ZX-1 Mini-Einheit wurde entwickelt, um wiederholbare Ergebnisse zu liefern, so dass es Vertex zuverlässigste Maschine in Bezug auf Benutzerfreundlichkeit, Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Messungen. Seine intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht eine einfache Bedienung und sein flexibles Softwarepaket ermöglicht eine automatisierte Bedienung und Messung. Das Werkzeug kann mit einer Vielzahl von Masken verwendet werden, einschließlich Chrom, Kohlenstoff, Quarz, Edelstahl und Silber. Darüber hinaus ist der Vermögenswert mit einer Reihe von Wafern kompatibel, einschließlich Silizium und Galliumarsenid. Das Modell ist auch kompakt und leicht, so dass es sehr tragbar und ideal für den Einsatz in jedem Labor oder auf dem Firmenboden. Insgesamt ist DIRECT OPTICAL ZX-1 Mini eine zuverlässige Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die überlegene Genauigkeit, Empfindlichkeit und Wiederholbarkeit bietet. Seine Hochleistungsoptik und fortschrittliche Software machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Halbleiterindustrie.
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