Gebraucht DNS / DAINIPPON STM-602 #293608962 zu verkaufen

DNS / DAINIPPON STM-602
ID: 293608962
Film thickness testers.
DNS/DAINIPPON STM-602 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein voll ausgestattetes Instrument zur Erkennung von Defekten an Photomasken und Wafern. Es verwendet fortschrittliche digitale Bildgebungstechniken, um gemusterte Bilder einschließlich vorgefertigter Masken und lithographisch belichteter Wafer zu überprüfen. Das System wurde entwickelt, um hohe Geschwindigkeit, Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bieten. Es verfügt über mehrere automatisierte Funktionen, wie automatisierte Fokussierung und Ausrichtung, die es für Hochdurchsatz-Inspektionsprozesse geeignet machen. DNS STM-602 ist ideal für Produktions- und Forschungs- und Entwicklungsaktivitäten. Das Gerät verfügt über einen 31,3 cm X 31,3 cm (12,3 Zoll X 12,3 Zoll) Prüftisch, der in der Lage ist, eine breite Palette von Substraten und Prozessen zu handhaben. Es bietet auch zwölf (12), verstellbare, statisch-freie Bodenstifte für optimalen Kontakt und Ausrichtung für verschiedene Masken- und Wafergrößen und -formen. Der optische Zoombereich der Maschine variiert von 0.6X bis 10X und ermöglicht die Inspektion verschiedener Bereiche mit bildgebender oder fokussierender Optik. Ein motorisierter Drehteller ist im Lieferumfang enthalten, der es den Betreibern ermöglicht, die Vergrößerung an schwierige Bereiche anzupassen. DAINIPPON STM-602 Mask & Wafer Inspection Tool verfügt über eine erweiterte Optik-Asset, die sowohl helle Feld und Dunkelfeld Bildgebung verwendet. Die Lichtfeld-Bildgebung bietet eine optimale Detektionsempfindlichkeit und Inspektionskonsistenz, während das Dunkelfeld ideal für kleine Fehlererkennung ist. Das Modell verwendet auch eine Laser-Rastermikroskopie (LSM) -Technik zur Oberflächeninspektion. Die Technik ermöglicht eine genaue und wiederholbare Abbildung der Probenoberfläche. Es verwendet einen Laser, um den Probenbereich zu beleuchten und ein bewegliches Strahlprofil auf dem Zielmaterial zu erzeugen, das verschiedene physikalische und chemische Eigenschaften der Probe aufzeigt. Das Gerät umfasst ein automatisiertes Wafer-Profilierwerkzeug, das die Überprüfung von Defekten sowohl an der oberen als auch an der unteren Oberfläche des Wafers ermöglicht. Die Software berechnet Overlay- und Fokusverschiebungswerte zur hochpräzisen Ausrichtung und Fehlererkennung. Schließlich wird STM-602 Mask & Wafer Inspection System durch Support- und Wartungsservices unterstützt, so dass Benutzer die Leistung und Zuverlässigkeit ihres Geräts maximieren können. Diese Dienstleistungen umfassen technische Beratung, vorbeugende Wartung, Kalibrierung und Maschinenupgrades sowie eine internationale Garantie.
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