Gebraucht DNS / DAINIPPON STM-603-PLS #293616221 zu verkaufen

DNS (Diamond Navigation Equipment) DNS/DAINIPPON STM-603-PLS ist ein Maske & Wafer Inspektionssystem aus Japan. Das Gerät ist in der Lage, Defekte an Masken und Wafern mit hoher Genauigkeit und Auflösung zu überprüfen. Es nutzt eine Reihe von Technologien wie eine einzigartige Scanmaschine, montiert mit Stereo-Digitalkameras und einem Halbleiter-Laserscanner. Das Werkzeug eignet sich ideal zur Überprüfung von Halbleiterscheiben- und Maskensubstratmaterialien. Die Anlage enthält eine Präzisionssubstratstufe mit schneller, präziser Messung. Es nutzt Scan-Linien- und Off-Axis Defection-Inspektionstechnologie, um eine detaillierte und genaue Bewertung von Fehlern zu ermöglichen. Es enthält auch die neueste Lasertechnologie, um hochauflösendes Scannen und Fehleranalyse zu erreichen. Das Modell ist mit einer einzigartigen automatisierten Fehlerklassifizierung ausgestattet, um Fehler ohne Eingriff des Bedieners zu bewerten. Das System bietet eine Vielzahl integrierter Funktionen, darunter ein 360-Grad-Off-Axis-Sub-Pixel, eine Multizoom-Vergrößerung, ein 3D-Oberflächenprofil und weitere benutzerfreundliche Funktionen zur Messung, Analyse und Auswertung von Masken- und Wafersubstratkomponenten. Es bietet auch eine schnelle und genaue Ausrichtung der Wafer, indem sowohl Auto-Fokus und manuelle Ansatz. Der Autofokus-Algorithmus sorgt für den optimalen Bildfokus für jede Ebene und deckt einen breiteren Bereich von Winkeln ab. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer „Lasermarke“ -Funktion ausgestattet, um fehlerhafte Markierungen auf Masken und Substraten zu erkennen. DNS STM-603-PLS Maschine enthält auch eine einzigartige „Quick Switch“ -Funktion, so dass das Werkzeug schnell zwischen verschiedenen Arten von Oberflächenscannen und Inspektionsmethoden wechseln kann. Diese Funktion ermöglicht es dem Asset, eine Vielzahl von Waferbereichen schnell und einfach zu überprüfen und zu analysieren. Das Modell wurde entwickelt, um die ultimative Halbleiterscheiben-, Masken- und Substratprüfung anzubieten, indem es mehr Genauigkeit, Zuverlässigkeit, Geschwindigkeit und Benutzerfreundlichkeit bietet als je zuvor. Diese Ausrüstung ist somit zu einem unverzichtbaren Werkzeug in der Halbleiterindustrie geworden und in der Lage, genaue Inspektionen mit schnelleren Rückkopplungszeiten und einem höheren Durchsatz als je zuvor zu liefern.