Gebraucht ESI / MICROVISION 852 #9255766 zu verkaufen

ESI Microvison ESI/MICROVISION 852 ist eine fortschrittliche Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung entwickelt, um Fehler auf Geräten in der Halbleiterindustrie zu erkennen. Dieses System ist mit einer leistungsstarken Lichtquelle, AutoFocus und einer Rückfahrkamera ausgestattet. Es wird verwendet, um sowohl Masken als auch Wafer zu inspizieren und kann Bilder von fast jeder Größe oder Form aufnehmen. Dieses Gerät verwendet einen optischen Zoom, um Bilder bis zu 132X zu vergrößern, während es auch über einen Autofokus-Mechanismus verfügt, um sicherzustellen, dass Bilder auf allen Vergrößerungsebenen scharf und fokussiert sind. ESI 852 ist auch in der Lage, detaillierte Bilder durch eine Reihe von Farben und hellen Graustufenkontrast zu produzieren. MICROVISION 852 verfügt außerdem über eine leistungsstarke Düsenprüfmaschine, um einen bestimmten Bereich für die weitere Inspektion durch kontrastierende optische Intensität des Materials zu ermitteln. Dadurch wird sichergestellt, dass auch kleinste Fehler erkannt und isoliert werden. 852 wird mit mehreren Bildverarbeitungsalgorithmen geliefert, die alle Arten von Fehlern hervorheben und erkennen sollen. Diese Algorithmen können Oberflächenmängel, Kratzer, Zerkleinerungen, Tränen und andere Oberflächenmerkmale wie Linienbreite und Strukturverzerrungen erkennen. ESI/MICROVISION 852 verfügt auch über automatische Belichtungs- und Binning-Funktionen, die es ihm ermöglichen, Bilder höherer Qualität mit Bildern aus Quellen mit unterschiedlichem Hintergrund zu erzeugen. Dies geschieht, indem der Belichtungs- und Binning-Prozess automatisch an die optische Intensität der Beleuchtung oder des Materials angepasst wird. ESI 852 ist in einem kompakten Gehäuse konzipiert, das in engen Produktionsumgebungen leicht transportiert und installiert werden kann. Es ist auch wartungsfrei mit allen Software-und Hardware-Upgrades leicht von MICROVISION Website heruntergeladen. Zusammenfassend ist MICROVISION 852 ein fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug, das sich ideal zur Erkennung kleiner Defekte an Halbleiterbauelementen eignet. Seine leistungsstarken Optik- und Bildverarbeitungsalgorithmen ermöglichen es ihm, selbst kleinste Fehler zu ermitteln und zu erkennen, während seine Autofokus- und Belichtungsfunktionen Qualitätsbilder verschiedener Materialien gewährleisten.