Gebraucht ESI / MICROVISION MVT 7080 #293607230 zu verkaufen

ESI/MICROVISION MVT 7080 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für die Halbleiterinspektion entwickelt wurde. Es kombiniert fortschrittliche optische und Softwaretechnologien, um hochauflösende Bildgebung für komplexe Masken und Wafer bereitzustellen. Das System kann eine Reihe von Defekten erkennen, einschließlich offener, kurzer, isolierter und Layoutfehler sowie Partikel, Verunreinigungen und Photomasken-Makel. Das Gerät verwendet eine leistungsstarke Mikroskop-Bildgebungsmaschine, um detaillierte Bilder der Masken und Wafer zu erfassen. Das Mikroskop verfügt über eine 4X telezentrische Zoomoptik und ist in der Lage, hochauflösende Bilder in wiederholbarer Weise zu erfassen. Das bildgebende Werkzeug enthält auch Filter und eine Lichtquelle, um die Oberflächendetails der Masken oder Wafer zu überprüfen. Das Bildaufnahmeobjekt ist mit einer computergesteuerten XY-Stufe gekoppelt, um ein Scannen auf Pixelebene zu ermöglichen. Das Inspektionsmodell wird mit einem spezialisierten automatisierten Fehleranalyse-Tool geliefert. Das Analysetool ist in der Lage, Fehler mit einer Kombination von Bildverarbeitungsalgorithmen zu erkennen und zu analysieren. Die Algorithmen verwenden vordefinierte Bibliotheksdaten, um fehlerbezogene Eigenschaften genau zu bestimmen. Die Software ist auch mit einer Benutzeroberfläche ausgestattet, um eine einfache Manipulation der Einstellungen und automatische Berechnungen von fehlerbezogenen Parametern zu ermöglichen. ESI MVT 7080 wurde entwickelt, um eine All-in-One-Maske und Wafer-Inspektion Ausrüstung zu sein. Es verfügt über einen modularen Aufbau, der sich leicht in andere Systeme integrieren lässt und eine schnelle und einfache Installation ermöglicht. Das System kann auch ferngesteuert mit Netzwerk-Konnektivität für Off-Site-Management und Überwachung betrieben werden. Es ist für den 24/7-Betrieb ausgelegt und behält eine hohe Qualität und Präzision bei. Insgesamt ist MICROVISION MVT 7080 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionseinheit. Es kombiniert leistungsstarke Optik und Softwaretechnologien, um komplexe Fehler zu erkennen und zu analysieren. Der modulare Aufbau erleichtert die Installation und Integration und die Maschine ist für den 24/7-Betrieb ausgelegt. Damit ist das Werkzeug eine ideale Wahl für die Erkennung und Analyse von Defekten in Halbleiteranwendungen.