Gebraucht ESI / MICROVISION MVT 7080 #293626852 zu verkaufen

ESI/MICROVISION MVT 7080 ist eine erstklassige Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. Mit einer präzisen, hochauflösenden Abbildung von Mustern bis zu 150 Nanometern bietet das System sowohl hochwertige Bilder als auch präzise Messungen für manuelle Inspektion und Überprüfung oder automatische Problemerkennung. ESI MVT 7080 wird von anspruchsvollen, hochmodernen Algorithmen angetrieben, die es Anwendern ermöglichen, klare Bilder verschiedener Größen und Formen wie Linien und Kreise zu erfassen. Bilder werden mit hochpräzisen Schätzern und Inspektoren verarbeitet, die zuverlässige quantitative Informationen liefern. Diese Informationen können dann verwendet werden, um Verarbeitungsfehler zu erkennen und die Platzierung von Merkmalen auf Schaltungen zu überprüfen. Das Gerät umfasst zwei Hauptkomponenten: ein Maskeninspektionsmodul (MIM) und ein Waferinspektionsmodul (WIM). Das MIM führt Maskeninspektionen mit einer maximalen Auflösung von 0,6 μ m und einer Schärfentiefe von bis zu 32 mm durch. Der Einsatz fortschrittlicher digitaler CCD-Bildgebung und patentierter Algorithmen ermöglicht es der Maschine, auch in komplexen Maskenlayouts Abbildungsfehler zu identifizieren und zu quantifizieren. Das WIM ermöglicht eine präzise Inspektion von maximalen Wafergrößen bis 200 mm. Mit dem neuesten automatischen Defektdetektor für die Waferinspektion (ADDI) kann das WIM Oberflächenfehler, Musterdefekte und Filmdefekte mit einer Messgenauigkeit von weniger als 30 Nanometern erkennen und messen. Dieses hochautomatisierte Tool bietet darüber hinaus fortschrittliche Algorithmen zur Fehlerklassifizierung und Fehleränderung, die eine schnellere und genauere Qualitätskontrolle ermöglichen. Schließlich ist die Anlage sehr modular und erweiterbar, so dass Anwender komplexe mehrstufige Inspektionen mit Leichtigkeit durchführen können. Mit dem Zusatz einer optionalen Substratstufe oder einer großen Nanoprobenstation kann MICROVISION MVT 7080 zur Inspektion einer Vielzahl von Materialien eingesetzt werden, darunter große Substrate und sogar Nanostrukturen. MVT 7080 ist eine ausgezeichnete Wahl für Halbleiterprofis, die ein zuverlässiges und präzises Masken- und Wafer-Inspektionsmodell suchen. Diese Ausrüstung bietet extrem hochauflösende Bildgebung, effiziente Datenverarbeitung, automatisierte Fehlererkennung und erweiterte Fehlerklassifizierung, so dass Fachleute der Qualitätskontrolle Probleme der Fertigung schnell und genau erkennen und beheben können.