Gebraucht ESI / MICROVISION MVT 7080 #9072774 zu verkaufen

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ESI / MICROVISION MVT 7080
Verkauft
ID: 9072774
Wafer sorter 110V, 50/50Hz, 15A.
ESI/MICROVISION MVT 7080 ist ein Masken- und Wafer-Inspektionsgerät, das ein fortschrittliches Sichtsystem und eine bildgebende Technologie verwendet, um Fehler an SMD-Paketen (Surface Mount Device) zu erkennen. Das Gerät bietet verschiedene Arten von Bilderfassungstechnologien, darunter Laserprofilometrie (LP) und 3D-Interferometrie (3DIF). ESI MVT 7080 kann ein Volumen von bis zu 0,5 x 0,47 mm erfassen und gleichzeitig Farbe, Oberflächenhöhe und Formen bis zu 5 μ m messen. Die Maschine bietet zudem leistungsstarke Bildverarbeitungs- und Verarbeitungsfunktionen, mit denen Benutzer selbst kleinste Oberflächenfehler erkennen und in Echtzeit überwachen können. Das Werkzeug schließt eine einheitliche Hardwareplattform und Hochleistungsbildverarbeitungshardware mit 5MP Farbenkamera ein. Darüber hinaus verfügt die Plattform über einen großen CCD, der eine hochauflösende Probenbildgebung bietet und eine Echtzeit-Anzeigefunktion bietet. Das Asset umfasst darüber hinaus dynamische Vergrößerungsfunktionen, die helfen, eine genaue Messung zu gewährleisten, auch wenn feine Details im Bild gehandhabt werden. Um eine präzise Messung zu gewährleisten, verfügt MICROVISION MVT 7080 über ein einzigartiges Focus Integration Model (FIS) mit einem patentierten Algorithmus und einem einstellbaren Fokus. Das Gerät bietet außerdem mehrere Modi mit unterschiedlichen Intensitätsstufen. Das System bietet auch einfach zu bedienende, programmierbare Messmodi, mit denen Benutzer das Gerät für bestimmte Messungen konfigurieren können. Darüber hinaus ist MVT 7080 mit einer robusten Software-Anwendung ausgestattet, die verschiedene Sprachen unterstützt, sodass Benutzer ihre spezifischen Anforderungen erfüllen können. Diese Software-Anwendung hilft auch, Zeit zu sparen und menschliche Eingriffe zu reduzieren, da sie verschiedene Funktionen für die Verwaltung und Analyse von Benutzerdaten bietet. Die Maschine bietet einen hochpräzisen Nulldurchgang (ECO) -Mechanismus, der hilft, Oberflächenhöhe und Defekte genau zu messen. Dieser Mechanismus hilft bei der Identifizierung und Messung der Anzahl von Oberflächenfehlern aus Bildern, die von Wafern oder Paketen aufgenommen wurden. Das Tool bietet außerdem eine automatisierte Pakettyperkennungsfunktion und eine statistische Auswertefunktion, die beide bei der Optimierung des Inspektionsprozesses helfen. Insgesamt bietet ESI/MICROVISION MVT 7080 Maske und Wafer Inspektion Asset einen umfassenden Ansatz für Oberflächenmontage Gerät Fehlererkennung. Das Modell bietet eine fortschrittliche Bildverarbeitungsausrüstung, leistungsstarke Bildverarbeitungsfunktionen und eine umfassende Palette von Funktionen, die den Inspektionsprozess unterstützen.
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