Gebraucht ESI / MICROVISION MVT 7080 #9189881 zu verkaufen

ESI/MICROVISION MVT 7080 ist eine fortschrittliche Masken- und Waferinspektionsanlage, die speziell entwickelt wurde, um die Produktivität zu steigern und die Kosten für Wafer- und Maskeninspektionsaufgaben zu senken. Dieses System ist ideal für die Verwendung durch Halbleitergewebe, integrierte Schaltung (IC) Herstellung und andere Maskeninspektionsanwendungen. ESI MVT 7080 Einheit kann leicht mehrere Substrate von 200mm bis 450mm mit einer maximalen Abtastrate von 40 Bildern pro Sekunde und einer maximalen Auflösung von 0,144 Mikrometern behandeln. Darüber hinaus verfügt MICROVISION MVT 7080 über eine integrierte Lichtquelle und eine optische Maschine, die eine optimale Leistung unter einer Vielzahl von Substraten gewährleistet und so extrem vielseitig und für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Das Hauptmerkmal des MVT 7080 ist sein automatisiertes Scan-Tool, das die Vorteile fortschrittlicher künstlicher Intelligenz (KI) -Algorithmen nutzt, um Ergebnisse zu identifizieren und genau zu analysieren. Das Asset verfügt außerdem über ein Bildqualitäts- und Überprüfungsmodul, das Inspektionspunkte genau abbildet, um sauberere, präzisere Ergebnisse zu gewährleisten. ESI/MICROVISION MVT 7080 verfügt auch über Infrarot- und sichtbares Licht bildgebende Funktionen, die eine höhere Präzision bei der Untersuchung kritischer Teile der Maske oder des Wafers ermöglichen. ESI MVT 7080 bietet auch Datenanalyse-, Berichts- und Protokollhaltefunktionen, die eine Analyse und Nachverfolgung des Inspektionsprozesses ermöglichen. Das Modell ist auch in der Lage, schnell auf Änderungen an Substraten zu reagieren, so dass es Präzision und Genauigkeit unter einer Vielzahl von Umgebungsbedingungen beibehalten kann. Schließlich ist MICROVISION MVT 7080 sehr energieeffizient und verfügt über eine Carbon Reduction Achievement-Bewertung von 6,1 - die höchste in der Branche. Insgesamt ist MVT 7080 ein unverzichtbares Werkzeug für die Masken- und Waferinspektion. Die präzisen Scanmöglichkeiten und die umfassende Bildanalyse bieten die Genauigkeit und Details, die erforderlich sind, um effiziente, präzise Masken- und Waferinspektionsprozesse zu gewährleisten. Darüber hinaus bieten die fortschrittlichen KI-Algorithmen und die integrierten Protokollierungsfunktionen eine einfach zu bedienende Analytik und Datenüberwachung, um den gesamten Prozess zu optimieren und Kosten zu senken.