Gebraucht ESTEK WIS-900 #293595286 zu verkaufen

ESTEK WIS-900 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die entwickelt wurde, um überlegene Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bieten und gleichzeitig erweiterte Technologiespeicher und Logik-Wafer bei höchsten Geschwindigkeiten zu überprüfen. Die integrierte Software ermöglicht es Anwendern, potenzielle Fehler an Wafern und Masken schnell und präzise zu erkennen und zu identifizieren. Das System besteht aus zwei Komponenten: einer computergesteuerten Abtasteinheit zur Erkennung von Unregelmäßigkeiten oder Defekten in den Halbleiterscheiben und -masken sowie einer umfassenden Datenerfassungs- und Anzeigemaschine für leistungsstarke und genaue Fehlervariabilitätsanzeigen. WIS-900 verwendet ein fortschrittliches Vision-Tool für verbesserte Inspektionsgeschwindigkeit und Genauigkeit. Die Software enthält eine Reihe spezieller Algorithmen zum Extrahieren unterschiedlicher Fehlerparameter, Erstellen und Anzeigen von Messergebnissen sowie zum Generieren von Berichten. Die Scaneinrichtung verwendet eine bewegliche Bühnen- und Scankamera mit 4- μ m Auflösung, um Unregelmäßigkeiten auf dem Substrat zu erkennen, wobei bis zu drei verschiedene Materialien gleichzeitig überprüft werden. Eine Einführung fortschrittlicher Bildverarbeitungstechniken verbessert die Fähigkeit des Modells, Fehler bis zu einer Fehlergröße von 0,5 - μ m zu erkennen. Die Abtastrate beträgt bis zu 200 Wafer pro Stunde mit bis zu 8.000 Messungen pro Wafer. Die Scanfeldgröße ist anwenderwählbar und einstellbar, so dass eine vollständige Wafer-Fehlerinspektion möglich ist. Alle Messergebnisse sowie die Fehlerbilder können auf ESTEK WIS-900 gespeichert und angezeigt werden. Das Gerät bietet Anwendern eine gründliche Fehleranalyse und -berichterstattung wie Fehlergröße, Standort und Typ. Statistische Prozessinformationen können mit Fehler- und Sortierdaten erfasst und angezeigt werden, sowie mit Punkt-, Surf-, Linien- und Flächendiagrammen angezeigte Ergebnisergebnisse. Durch die vielseitige Steuerung, Datenerfassung und Anzeige von WIS-900 können Prozess- und Qualitätsingenieure Informationen zu ihren Interessen und Anforderungen definieren und anzeigen. ESTEK WIS-900 ist ein hocheffektiver und robuster Weg, um kleine Defekte auf Halbleiterbauelementen zu identifizieren und zu klassifizieren. Zusätzlich zur verbesserten Fehlererkennung verbessert das System die Fehlerdichtigkeit, Überwachung und Ausbeute. Es ist sowohl benutzerfreundlich als auch bietet erstklassige Fehleranalysen. Die Robustheit der Einheit bietet Sicherheit und langfristige Zuverlässigkeit für alle Arten von Masken- und Wafer-Inspektion.