Gebraucht HERMES MICROVISION / HMI eP3 XP #9293877 zu verkaufen

HERMES MICROVISION / HMI eP3 XP
ID: 9293877
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2012
E-Beam inspection system, 12" 2012 vintage.
HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die ein hohes Maß an Genauigkeit und Präzision zur Identifizierung mikroskopischer Defekte und Merkmale in komplexen Mustern mit hoher Dichte bietet. Das System verwendet eine Kombination aus fortschrittlicher Bildverarbeitung und innovativen Algorithmen, um beide Seiten der Maske oder des Wafers schnell und gründlich zu überprüfen. HMI eP3 XP verfügt über eine leistungsstarke Laserscantechnologie, um hochauflösende Stereodaten schnell und präzise zu sammeln. Das Gerät verwendet eine 2-Kamera, kontaktlose Bildverarbeitungsmaschine, um Vollfeld-Stereobilder der Maske oder des Wafers bereitzustellen. Die proprietäre Mustererkennungssoftware unterstützt die automatisierte Fehlerinspektion und die Erkennung von 3D-Profilfunktionen. Die proprietäre Vision-Plattform von HERMES MICROVISION eP3 XP verwendet ein ausgeklügeltes dreidimensionales (3D) analytisches Bildgebungswerkzeug, um selbst kleinste Fehler oder Merkmale schnell zu identifizieren und zu isolieren. Die Anlage wurde entwickelt, um Fehlererkennung und Weitfeldbildgebung auf Nanometergenauigkeit zu reduzieren. Das Modell enthält auch viele Funktionen, die es intuitiv und benutzerfreundlich machen, einschließlich einer einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche (GUI). So können Anwender schnell und effizient auf verschiedene Tools zugreifen. Das Gerät bietet auch mehrschichtige Funktionen, die es dem Bediener ermöglichen, Inspektionen für einzelne Funktionstypen zu konfigurieren. HMI eP2 XP ist ein robustes System, das für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, wie Inspektion und Fehlererkennung von fortgeschrittenen Fertigungsmasken und Werkzeugen, und integrierte Schaltkreise (IC) Wafer. Es verfügt über viele Funktionen, die es zu einer ausgezeichneten Wahl für jede Anwendung für die Masken- und Waferinspektion machen, wie seine bewährte Fehlererkennung und 3D-Oberflächenprofilierung. Insgesamt ist eP3 XP-Masken- und Wafer-Inspektionseinheit eine fortschrittliche, benutzerfreundliche Maschine, die die ultimative Möglichkeit bietet, Masken und Wafer auf Fehler und Funktionen zu überprüfen. Durch die Nutzung der neuesten Technologien ist das Tool in der Lage, mikroskopische Defekte und Funktionen schnell und präzise zu erkennen und so ein Höchstmaß an Produkt- und Prozessqualität zu gewährleisten. Die intuitive Benutzeroberfläche und die mehrschichtigen Funktionen verbessern die Benutzerfreundlichkeit und das Dienstprogramm des Asset weiter und sind somit eine ausgezeichnete Wahl für jede Masken- und Waferinspektionsanwendung.
Es liegen noch keine Bewertungen vor