Gebraucht HERMES MICROVISION / HMI eScan 315xp #293595412 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
Verkauft
ID: 293595412
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2011
E-Beam inspection system, 12"
Robot handler
(2) FOUPs
EV-S20P Dry pump
CIM: SECS / GEM
Operating system: Windows XP
E-gun non-functional
2011 vintage.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 315xp ist eine leistungsstarke, fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um eine automatisierte, hochpräzise optische Inspektion von kleinen Halbleiterbauelementen zu ermöglichen. Das System verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, einschließlich Vollbild-Bildauflösung von bis zu 10 nm, überlegene Bilderfassung und Bildanalyse-Fähigkeit, ultraschnelle Sample-Scan-Zeiten, und mehrere erweiterte Software-Tools und Optionen. HMI eScan 315xp verwendet eine hochmoderne optische Einheit, bestehend aus einer 190nm tiefen UV-Lichtquelle, einem Mikroskopobjektiv und einer hochauflösenden Digitalkamera. Die Maschine bietet aufgrund ihres ultraempfindlichen optischen Werkzeugs eine hervorragende Bildgebungsleistung und ermöglicht eine hochpräzise Abbildung von Strukturen bis zu 10nm. Die fortschrittlichen Bildgebungsalgorithmen des Asset bieten Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme und -analyse sowie außergewöhnlichen Bildkontrast und sind somit ideal für eine Reihe von Anforderungen an die Waferinspektion und Druckzeilenerkennung. HERMES MICROVISION eScan 315xp verfügt zudem über eine Reihe automatisierter Software-Tools. Dazu gehören fortgeschrittene Maskeninspektion, Substratinspektion und Fehlererkennung Werkzeuge. Das Maskeninspektionswerkzeug ermöglicht die schnelle und automatisierte Erkennung von Fehlern in Photomaskenmustern, während das Substratinspektionswerkzeug die genaue bordeigene Erkennung von kritischen Fehlern in Photolithographiesubstraten ermöglicht. Das Fehlererkennungswerkzeug des Modells kann verwendet werden, um ertragskritische Fehler in Folien- und Siliziumschichten zu identifizieren, und kann eine detaillierte Analyse und Berichterstattung über die waferspezifische Fehlerabdeckung liefern. Das Gerät verfügt auch über eine Reihe von eingebauten Funktionen. Dazu gehören programmierbare Scanraten, sensible Datenarchivierung und systemweite Fehlerbehandlung. Die erweiterte Scan-Rate-Funktion ermöglicht ein schnelleres Scannen, während die Datenarchivierungsfunktion sicherstellt, dass erfasste Bilddaten sicher und sicher gespeichert werden können. Die Fehlerbehandlungssysteme des Geräts machen es ideal für den Einsatz in unternehmenskritischen Anwendungen und bieten ausfallsicheren Schutz vor möglichen katastrophalen Ereignissen. EScan 315xp ist eine unglaublich leistungsstarke und vielseitige Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine, die für überlegene Leistung in einer Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Seine Kombination aus optischer Präzision, bildgebender Leistung, fortschrittlichen Softwarewerkzeugen und nützlichen Funktionen machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Inspektion und Prüfung von Halbleiterbauelementen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor