Gebraucht HITACHI IS 2700 #9243641 zu verkaufen

HITACHI IS 2700 Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung ist eine umfassende Lösung für optoelektronische Halbleiterbauelementinspektion. Es verfügt über Hochgeschwindigkeits-Parallelbildgebung mit berührungsloser Technologie, die die Erkennung von Defekten unter einem Mikroskop in Echtzeit ermöglicht. Dieses System wird am häufigsten zur Inspektion von Masken- und Wafersubstraten sowie mit Metallschichten beschichteten Substraten verwendet. Die Einheit besteht aus einer Lichtquelle, einer Kamera und einer Steuereinheit. Die Lichtquelle projiziert ein Lichtmuster auf das Substrat, das dann durch ein optisches Filter gelangt, das die Lichtwellenlängen auswählt, die die Kamera erfassen kann. Die Kamera nimmt das Bild des Substrats auf und sendet es an die Steuereinheit. Die Steuereinheit verarbeitet dann das Bild und vergleicht es mit den ursprünglichen Konstruktionsvorgaben, wodurch Fehler im Substratmaterial erkannt werden können. Die Maschine IS 2700 verwendet eine hochauflösende CCD-Kamera und einen proprietären Bildverarbeitungsalgorithmus, der es ermöglicht, sehr kleine Fehler in den Substraten zu erkennen. Das Werkzeug kann Defekte an der Mikroebene erkennen, einschließlich Risse, Hohlräume und andere Arten von Verformungen, die zu Versagen in den Geräten führen können. Dieses Gut hat auch eine hohe Empfindlichkeit gegenüber Staubpartikeln, die das Gerät schädigen können. Das Modell ist mit einer interaktiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine einfache Bedienung und Navigation ermöglicht. Es verfügt über eine Reihe von Menüs und Optionen, sowie eine intuitive Software, die einfach zu laden und zu analysieren Bilder. Darüber hinaus ist das Gerät sehr konfigurierbar, mit einer Reihe von Optionen, Einstellungen und Parametern für die Inspektionen. Neben den Standardmerkmalen verfügt das Prüfsystem HITACHI IS 2700 auch über eine einzigartige Hardwarekomponente. Dabei handelt es sich um einen Hochgeschwindigkeits-Parallelbildkopf, der aus vier Laserdiodensensoren besteht, die Lichtpulse erzeugen und eine breite und gleichmäßige Sicht auf das Substrat ausleuchten. Dies ermöglicht eine detaillierte und genaue Platzierung der Mosaikbilder und erhöht die Genauigkeit und Geschwindigkeit der Inspektion. IS 2700 ist ein leistungsstarkes und zuverlässiges Werkzeug für die Inspektion optoelektronischer Halbleiterbauelemente. Es ist in der Lage, hochgenaue und schnelle Inspektion von Maske und Wafer Substrate. Die berührungslose Technologie und der schnelle parallele Abbildungskopf ermöglichen es, ein wesentliches Werkzeug für die Erkennung von Defekten am Mikroniveau zu sein. Dank seiner interaktiven Benutzeroberfläche und konfigurierbaren Optionen ist HITACHI IS 2700 eine ideale Lösung für die effiziente und präzise Inspektion optoelektronischer Halbleiterbauelemente.