Gebraucht HITACHI IS 2700SE #9083778 zu verkaufen

HITACHI IS 2700SE
ID: 9083778
Defect inspection system.
HITACHI IS 2700SE ist eine weltweit führende Ausrüstung für die Masken- und Waferinspektion. Es wurde entwickelt, um Halbleiter- und Mikroschaltungsherstellern zu helfen, die relevanten Details aus Masken- und Wafermustern für eine effiziente Prozesssteuerung und -optimierung zu messen, zu erkennen und zu extrahieren. Das System besteht aus vier Hauptkomponenten: der Lichtquelle, der Kamera-Untereinheit, der Bildverarbeitungsmaschine und der Overlay-Analysesoftware. Die Lichtquelle ist eine ultraviolette (Wellenlänge von rund 365nm) Entladungslampe mit einer Leistung von etwa 500W. Das Kamera-Sub-Tool ist für die Erfassung und Übertragung der Lichtquellenausgabe an das bildgebende Element verantwortlich. Das bildgebende Modell besteht aus zwei Hauptkomponenten: der CCD-Kamera und dem Binokularmikroskop. Das Mikroskop ermöglicht eine Vergrößerung des Bildes von der CCD-Kamera, um Fehler und Fehler schnell und genau zu erkennen. Die Overlay-Analysesoftware nimmt dann das aufgenommene Bild aus der bildgebenden Ausrüstung, um die Qualität des Musters auf dem Wafer oder der Maske zu bestimmen und mit vorgegebenen Standards zu vergleichen. Das System kann eine Vielzahl von Oberflächenformen und Masken mit Pixelgrößen von bis zu 8um unterstützen. Es kann Schichtdicken von bis zu 0,1 um und eine Bildgröße von 2288 x 1712 behandeln. Der maximale Fokussierbereich beträgt 1,3 mm und eine Geschwindigkeit von 2,4 Bildern pro Sekunde, was ihn zu einer idealen Wahl für hochpräzise Fertigungsprozesse macht. Das Gerät enthält eine Reihe von Anwendungen, die Benutzern helfen, die genauesten Ergebnisse zu erzielen. Dazu gehören Datenanalysefunktionen, mit denen Benutzer Fehler am Wafer oder der Maske erkennen und analysieren können. Darüber hinaus können Genauigkeitseinstellfunktionen verwendet werden, um Ergebnisse an spezifische Kundenanforderungen anzupassen. Die Maschine unterstützt auch mehrere Messmodi, wie automatische Erkennung, manuelle Erkennung und Analyse automatisierter Topologiedatenbanken. IS 2700SE Tool verfügt auch über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI). Auf diese Weise können Benutzer das Asset schnell und einfach auswählen und konfigurieren sowie Parameter optimal an ihre Anforderungen anpassen. Schließlich bietet das Modell flexible Netzwerkfunktionen, die mehrere Plattformen wie PCNT, TCP/IP und andere Netzwerke unterstützen. Insgesamt ist HITACHI IS 2700SE eine ideale Lösung für Halbleiter- und Mikrokreishersteller, die Fehler an Masken und Wafern effizient messen, erkennen und analysieren möchten. Durch den Einsatz dieses Systems können Hersteller von weniger Prozessverzögerungen, verbesserter Ertragsqualität und geringeren Kosten profitieren und so höchste Fertigungsgenauigkeit und Exzellenz gewährleisten.
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