Gebraucht HITACHI IS 2700SE #9123256 zu verkaufen

ID: 9123256
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2004
Defect inspection system, 12" Process: Scanning electron microscope(SEM) (2) Loadports: TDS TAS3000 Dalsa controller TDI Sensor Laser box Microscope Stage assy Controller card cage (left): CPK B/D Slot 11~15, 20, 22~25 CPK B/D Slot 16~19, 21 Macro 6642 B/D TECTRON B/D Controller card cage (right): BPK B/D Slot 11~14,17~20, 22~25, 28~31 BPK B/D Slot 15,16, 21,26,27, 32~34 Operation module: System computer (3) Power supplies CCD monitor PC monitor Video printer Laser power switch box Coherent laser controller Keyboard, joystick, trackball Rear cover missing Power: AC200V, 1 Phase, 3-wires, 50/60Hz, 60A 2004 vintage.
HITACHI IS 2700SE mask & wafer inspection equipment ist ein fortschrittliches automatisiertes optisches Inspektionssystem für die effiziente Analyse von Photomasken und Wafern in der Halbleiter- und Elektronikindustrie. Es bietet Hochgeschwindigkeits- und bemerkenswert genaue Inspektionsmöglichkeiten, die die schnelle Erkennung von Fehlern in neuen und bestehenden Konstruktionen ermöglichen. Das Design von IS 2700SE verfügt über einen Präzisions-6-Achsen-Roboter und einen 80-Megapixel-Bildverarbeitungssensor, der sowohl Frühstufenmasken als auch Wafer mit extrem feinen Details inspizieren kann. Es bietet sowohl Vorder- als auch Rückseite sowie komplexe mehrseitige Inspektionen. Darüber hinaus umfassen seine Wafer-Inspektionsmöglichkeiten die Identifizierung von Defekten auf Quarz- und Glassubstraten. HITACHI IS nutzt 2700SE hochpräzise optische Bildgebungstechnologien, um auch kleinste Defekte mit bis zu 2 Nanometern Größe genau zu erkennen. Einzigartig für die Einheit ist die konfokale Mehrstrahl-Optik-Konfiguration, die es der Maschine ermöglicht, ein wesentlich genaueres Bild zu erhalten, als ein typisches Linsenwerkzeug kann. Dies ermöglicht es IS- 2700SE, Fehler schneller zu identifizieren und genaue Ergebnisse in Sekundenschnelle zu registrieren. Mit einer Reihe von Sonden zur Verfügung, um jede Kombination von Maske und Wafer-Typen zu behandeln, kann das Asset flache Oberfläche, Mikroelektrode, Stufenoberflächen sowie gerillte Materialien überprüfen. Das Modell verfügt über eine Reihe von automatisierten Tests und kann mit einer Vielzahl von Software verwendet werden, mit der Benutzer die Ergebnisse anzeigen und die Parameter der Tests einstellen können, so dass sie schneller und effizienter durchgeführt werden können. Die Software umfasst Fehlerklassifizierung, Detektionsanpassung, flächenorientierte Inspektion, Fehlerlokalisierung, Schwellenmuster und sequentielle Fehlerkarten. HITACHI IS 2700SE bietet eine breite Palette von Tools, mit denen Benutzer anpassen können, wie die Aufgaben ausgeführt werden. Dazu gehören Bild- und Fehlerspeicher, automatische Transformationsprogrammierung und Erkennungs-Workflow-Überwachung. Es verfügt auch über eine benutzerfreundliche GUI-Schnittstelle, die die Bedienung vereinfacht und die Anwesenheit eines Bedieners überflüssig macht. IS 2700SE ist ein äußerst zuverlässiges und effizientes Werkzeug zur effizienten Analyse und automatisierten Erkennung von Fehlern in Photomasken und Wafern. Mit seinen automatisierten Tests und benutzerfreundlichen GUI bietet es leistungsstarke Inspektionsmöglichkeiten und ist ein Muss für jede Halbleiter- und Elektronikfertigung.
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