Gebraucht HITACHI LA-3100 #293643616 zu verkaufen

HITACHI LA-3100
ID: 293643616
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2001
Aligner, 8" 2001 vintage.
HITACHI LA-3100 ist eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die auf die hohen Anforderungen der Halbleiterherstellung ausgelegt ist. Es verfügt über ein robustes Design mit einem erweiterten Feature-Set, das eine hervorragende Leistung in einer Vielzahl von Inspektionsanwendungen ermöglicht. Das System verfügt über einen automatischen Vergrößerungswechsler (AMC), der eine variable Vergrößerung zwischen 35x und 300x bietet. Dadurch kann der Anwender die am besten geeignete Vergrößerung ohne manuelle Einstellung auswählen. Mit seinen einzigartigen „Instant Acquisition“ -Funktionen können LA-3100 schnell viele wiederholte Bilder aufnehmen, ohne das Objektiv jedes Mal neu einstellen zu müssen. Darüber hinaus ist die High Contrast Focus Detection (HCFD) von HITACHI LA-3100 eine branchenführende Funktion, die sich bei jeder Bildaufnahme automatisch auf die optimale Fokusebene einstellt. LA-3100 bietet auch optionale automatisierte Stage Vision (SV) für den Einsatz in fortgeschrittenen Masken- und Waferinspektionsanwendungen. Die SV-Kamera arbeitet synchron mit dem AMC des HITACHI- LA-3100-Geräts, wodurch der Anwender das Interessengebiet schnell und ohne manuellen Eingriff des Bedieners ausrichten kann. Dies verbessert die Genauigkeit und Effizienz des Bildprüfungs-Workflows. LA-3100 bietet zusätzliche Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, Mikromusterstrukturerkennung, doppelseitige Bildgebung und Echtzeit-Bildverbesserung. Diese Funktionen bieten eine flexible und intuitive Plattform, um eine perfekte Anpassung an die anwendungsspezifischen Bedürfnisse des Benutzers zu gewährleisten. Die benutzerfreundliche grafische Oberfläche von HITACHI LA-3100 ermöglicht eine einfache Bedienung und Datenabfrage. Mit einer integrierten Datenbankmaschine kann der Benutzer Daten aus dem Inspektionsprozess sammeln und auf eine verbesserte Werkzeugleistung analysieren. Der integrierte Qualitätskontrolle-Überprüfungsmodus ermöglicht es dem Benutzer, die Ergebnisse des Elements zu überprüfen und erforderlichenfalls Änderungen vorzunehmen. LA-3100 bietet eine umfassende und zuverlässige Lösung für die Masken- und Waferinspektion. Mit seinem großen Feature-Set, Hochleistungs-Kamera- und Bühnensystemen ist es ideal für jeden Halbleiterhersteller, der eine fortschrittliche Maskeninspektionsfähigkeit in einem kostengünstigen und zuverlässigen Gehäuse benötigt.
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