Gebraucht HITACHI PD 3000 #293754411 zu verkaufen

HITACHI PD 3000
ID: 293754411
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1994
Wafer inspection system, 8" 1994 vintage.
HITACHI PD 3000 Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung verwendet eine Vielzahl von anspruchsvollen Methoden, um eine umfassende Inspektion von Masken und Wafern zu bieten. Dieses System kann Defekte wie Anomalien, Partikelverunreinigungen und Kantenbrüche erkennen. Durch die Verwendung des automatisierten Offline-Modus mit seiner hohen Genauigkeit, adaptive Anpassung und High-Speed-Inspektion Technologie, PD 3000 kann rechtzeitige, genaue Ergebnisse liefern. Darüber hinaus ermöglicht die intuitive grafische Benutzeroberfläche eine einfache und effiziente Bedienung. HITACHI PD 3000 verwendet eine Reihe von individuellen Technologien, die es ermöglichen, Masken und Wafer effektiv zu inspizieren, wie seine patentierte Bildverarbeitungsplattform, 8-Achsen-Bühne und hochauflösende Kameras. Die bildgebende Plattform ermöglicht es dem Gerät, die Koordinaten und die Größe von Defekten innerhalb der inspizierten Maske oder des Wafers genau zu messen. Die 8-Achsen-Bühne bietet eine breite Palette von Bewegungen, um eine hochpräzise Steuerung der Bühnenbewegungen und der Kamera um die Probe zu ermöglichen. Dies ermöglicht genaue Fehlerortungs- und Größenmessungen. Schließlich ermöglichen es die hochauflösenden Kameras, klare Fehlerbilder mit bis zu 1.000.000 Pixeln pro Zoll zu erfassen. Darüber hinaus bietet PD 3000 eine Reihe hilfreicher Funktionen, um eine genaue Fehlererkennung zu unterstützen. Beispielsweise wurden durch die automatische Fehlererkennung Unterschiede zwischen zwei Bildern durch Querverweise erkannt, was eine hochgenaue Auswertung von Masken- und Waferunterschieden ermöglicht. Darüber hinaus wendet sein Nassdefektdetektionsmerkmal einen gemeinsamen Nassdefektdetektionsalgorithmus an, um Partikel zu detektieren, die ansonsten unter Trockenprüfung deemphasiert werden. Schließlich zeigen die 10,1-Zoll-Monitore der Maschine gemessene Fehlerdaten, Bilder jedes untersuchten Bereichs und ein Protokoll von gemessenen Fehlern an. Dadurch kann der Bediener während des Überprüfungsprozesses problemlos auf Daten zurückverweisen. Darüber hinaus ist HITACHI PD 3000 mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche und dem autonomen PC-Bedientool mit einfacher Bedienung konzipiert, was eine effiziente und rechtzeitige Inspektion ermöglicht. Insgesamt ist PD 3000 Maske und Wafer Inspektion Asset hochgenau, zuverlässig und intuitiv für einfache Bedienung entworfen. Mit seinen fortschrittlichen Technologien und hilfreichen Funktionen ist das Modell in der Lage, umfassende Masken- und Wafer-Inspektion für rechtzeitige Ergebnisse zur Verfügung zu stellen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor