Gebraucht HITACHI WS-50-1 #9396596 zu verkaufen

HITACHI WS-50-1 Mask and Wafer Inspection Equipment ist ein hochpräzises bildgebendes Werkzeug zur Inspektion von Musterfehlern auf Wafern wie Wafer-Vorder- und Rückseite, Maskenmustern und speziellen Prozessen. Dieses System verwendet fortschrittliche Messtechniken, um die Eigenschaften von Mustern mit extremer Genauigkeit und Effizienz zu messen. Darüber hinaus kann diese Einheit sowohl in eigenständigen als auch in integrierten Systemen für mehrere Anwendungen eingesetzt werden. Die Maschine eignet sich sowohl für industrielle als auch für Forschungsanwendungen und ist in der Lage, einen einzelnen Wafer mit einer Mindestgröße von 76,2 mm und einer maximalen Größe von 300mm abzubilden. Es ist ferner mit einer einzigartigen „Multi-Focus“ -Bildgebungsfunktion ausgestattet, die es ermöglicht, auch bei Wafern unterschiedlicher Dicke klare Bilder zu erhalten. Das Werkzeug umfasst auch eine „Multi-Wafer-Inspektion“ -Funktion, die es ermöglicht, mehrere Wafer gleichzeitig zu inspizieren. Darüber hinaus bietet WS-50-1 Mask und Wafer Inspection Asset dank seiner hochauflösenden CCD-Kamera und des austauschbaren C-Mount-Adapters qualitativ hochwertige Bildaufnahmefunktionen. Dieses Modell ist äußerst zuverlässig und kann aufgrund seiner kurzwelligen UV-Optik für klare, nicht verzerrte Bildgebung bis zu 100 mm Schichten in Reinraum- und Industrieumgebungen eingesetzt werden. HITACHI WS-50-1 verfügt zudem über eine Hochgeschwindigkeits-CPU mit großer Kapazität und einem leisen, energieeffizienten Design. Das fortschrittliche Scan-System gewährleistet eine schnelle, hochpräzise Bildgebung mit schneller Mustererkennung, um die Fähigkeit des Geräts zur schnellen und genauen Erkennung von Fehlern weiter zu verbessern. Die benutzerfreundliche Steuerungsmaschine ermöglicht eine einfache Inspektion von Musterfehlern an Wafern und Masken. Dieses Tool enthält auch eine intuitive Datenverwaltung, die es ermöglicht, Bilddaten zu speichern, zu verwalten und zu exportieren, um konsistente und zuverlässige Ergebnisse zu gewährleisten. WS-50-1 Masken- und Wafer-Inspektionsmodell kann zur genauen und effizienten Fehlererkennung in verschiedenen Branchen wie Halbleitern, Flachbildschirmen und anderen Branchen verwendet werden, in denen eine präzise Bildgebung unerlässlich ist.