Gebraucht HITS HFAI-1000D #293670434 zu verkaufen

HITS HFAI-1000D Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine hochautomatisierte, hochgenaue Lösung für die Masken- und Waferinspektion. Das System wurde entwickelt, um die anspruchsvollen Anforderungen an Qualitätssicherung, Fehlererkennung und fortschrittliche Fehlererkennung moderner Halbleiterfertigungslinien zu erfüllen. Das Gerät verfügt über eine hochpräzise XYZ-Bühne und fortschrittliche Lichtquellentechnologie mit fortschrittlicher Stroboskop-, Weißlicht- und UV-Beleuchtung. In einem kompakten Gehäuse untergebracht, verfügt HFAI-1000D über eine einfache und intuitive Benutzeroberfläche, die eine einfache Navigation und präzise Steuerung ermöglicht. Die Qualität der erzeugten Bilder wird durch die Anwendung verschiedener optischer Techniken, einschließlich Auto-Zoom, vom dunklen Feld bis zum hellen Feld oder schräg, um die Größe und Form von Defekten zu ermitteln und genau zu bestimmen, weiter verbessert. Darüber hinaus verfügt die Maschine über erweiterte Funktionen zur Fehlererkennung und Fehleranalyse mit einem optionalen Softwarepaket, das einen integrierten Ansatz für Hunderte von Fehleranalysen bietet, um genaue und zuverlässige Inspektionsergebnisse zu generieren. Dieser integrierte Ansatz soll die Qualifikationsgenauigkeit deutlich verbessern und die Zeit für die Fehlererkennung und Fehleranalyse reduzieren. Das hochmoderne Design und die Funktionen des Werkzeugs unterscheiden sich von anderen Masken- und Waferinspektionssystemen. Die Anlage ist auch vollständig anpassbar und kommt mit verschiedenen Prüfmöglichkeiten, je nach den Anforderungen des Kunden. Das Modell ist in der Lage, On-Demand-Produktionsunterstützung mit integrierten Konfigurationen, optimiertem Prozess und Echtzeit-Zykluszeitmessung zu bieten. HITS HFAI-1000D ist für die Mittel- bis Hochserienproduktion geeignet und soll Kunden maximale Flexibilität bieten. Darüber hinaus umfasst HFAI-1000D erweiterte Hardwarefunktionen wie ein voll integriertes Design, einen automatischen Wasserhahnansatz und eine bildbasierte Positionsbestimmung mit hoher Geschwindigkeit. Seine erweiterten Softwarefunktionen ermöglichen die Sammlung großer Mengen an Oberflächendaten und eine schnelle Echtzeit-Fehleranalyse auf großen Datensätzen. Das Gerät verfügt auch über erweiterte Bildfunktionen wie automatische Fehlererkennung und Klassifizierung, um die visuelle Hochgeschwindigkeitsprüfung zu unterstützen. Insgesamt ist das HITS HFAI-1000D Mask & Wafer Inspection System eine fortschrittliche Lösung für Halbleiterhersteller, die zuverlässige und effiziente Leistung benötigen.