Gebraucht ICOS WI-2000 #9239642 zu verkaufen

ICOS WI-2000
ID: 9239642
Weinlese: 2008
Wafer inspection system 2008 vintage.
ICOS WI-2000 ist eine integrierte Masken- und Waferinspektionsanlage, die eine qualitativ hochwertige Prüfung und Fehlererkennung mit hohem Durchsatz ermöglicht. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Masken- und Wafergrößen mit automatisierten Lösungen zu überprüfen, die auf die jeweilige Anwendung und den jeweiligen Prozess des Benutzers zugeschnitten sind. WI-2000 bietet fortschrittliche computergestützte Inspektionstechnologie, die mit umfassenden messtechnischen Funktionen integriert ist. Dies ermöglicht schnelle, genaue und wiederholbare Mustermessungen mit Datenimport und -export, Maskenausrichtung, eingehender Fehleranalyse und einem rationalisierten Workflow, der Overhead-Zeit und -Kosten reduziert. ICOS WI-2000 ist mit einem hochmodernen Kamerasystem ausgestattet, das mit fortschrittlichen Bildverarbeitungsalgorithmen integriert ist. Es erfasst hochauflösende Masken- und Waferbilder, einschließlich Hi-Kontrast-Defekten und Funktionen jeder Größe. Eine automatisierte Fehlererkennungseinheit ist für die automatische, fehlerfreie Suche von Probenoberflächen zur Auswahl und Messung von Merkmalen integriert, während eine Reihe von Maskenausrichtungsalgorithmen eine korrekte Probenpositionierung sicherstellen. Die optischen Messtechnik und Inspektionsmöglichkeiten der Maschine werden durch Computer-Vision-Tools zur Automatisierung der Messung von Merkmalen und Defekten verbessert. Musterpositions- oder Maskenkonturmessungen werden automatisiert und anspruchsvolle Engineering-Tools ermöglichen die Mustererkennung und den Vergleich mit vordefinierten Standards. Darüber hinaus umfasst WI-2000 ein flexibles und leistungsstarkes softwaregesteuertes Tool, das komplexe Aufgaben wie Datenimport und -export, Bild- und Fehlerdatenvergleich, Histogrammanalyse und Charting automatisiert. Es unterstützt auch 3D-Datenrendering, Datenanalyse und Berichtsgenerierung, um Benutzern zu helfen, komplexe Daten schnell und einfach zu visualisieren und zu interpretieren. Die Kombination aus automatisierter Masken- und Waferinspektion und Messtechnik von ICOS WI-2000 sowie intuitiver benutzerfreundlicher Software liefert präzise, zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse in kurzer Zeit. Dies macht es zu einem leistungsstarken Werkzeug zur präzisen Masken- und Waferinspektion und Fehlererkennung in Fertigungsumgebungen von Halbleiterbauelementen.
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