Gebraucht INSPECTECH ITWT 6020 #9266250 zu verkaufen
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ID: 9266250
Weinlese: 2009
Inspection machine
With dual track post tapes
2009 vintage.
INSPECTECH ITWT 6020 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für Halbleiteranwendungen. Das System nutzt fortschrittliche Optik, digitale Bildverarbeitung und Sondierungstechniken, um mikroskopisch aufgelöste Bilder der untersuchten Waferoberfläche schnell und genau zu analysieren. Das Gerät verfügt über ein optisches Mikroskop mit integrierter Dual-Tilt-Platte, hochauflösenden bildgebenden Sensoren und Sondierungswerkzeugen. Dies ermöglicht eine detaillierte Überprüfung der Zielflächenmerkmale. Die doppelte Neigungsplatte ermöglicht eine maximale Auflösung bei der Abbildung unter einem Winkel, was eine hervorragende Winkelauflösung und die Krümmung oder Neigung der Waferoberfläche berücksichtigt. In Verbindung mit der hochauflösenden Sensortechnologie der neuen Generation bietet ITWT 6020 eine klare Abbildung der Oberfläche bei einer 24-Bit-Farbtiefe pro Pixel für hochauflösende Bildanzeige und -analyse. INSPECTECH ITWT 6020 verwendet auch Sondierungswerkzeuge, um analytische Daten aus Bildern zu extrahieren. Die Maschine ist in der Lage, eine Vielzahl von Oberflächenmerkmalen zu erkennen, darunter mikroskopische Defekte, Verunreinigungen oder andere Oberflächenanomalien. Dazu gehören Spezialtechniken wie elliptisch geformte Waferoberfläche, automatische Fehlererkennung und Partikelentfernung. Ergebnismäßig bietet das ITWT 6020 Tool schnelle und genaue Ergebnisse. Messungen können sowohl in einem statischen als auch in einem dynamischen Zustand für eine genaue Bildgebung durchgeführt werden, was darauf hindeutet, dass das Asset Änderungen in Waferstrukturen im Laufe der Zeit genau verfolgen kann. Abschließend ist INSPECTECH ITWT 6020 ein fortschrittliches automatisiertes Masken- und Waferinspektionsmodell. Das Gerät bietet hochauflösende Bildgebung und Sondierung, präzise Oberflächenanalyse und schnelle und zuverlässige Ergebnisse. Damit ist sie eine ideale Wahl für alle Halbleiteranwendungen und Inspektionsprozesse.
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