Gebraucht K-MAC ST 4000 #9206782 zu verkaufen

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ID: 9206782
Weinlese: 2007
Thickness measurement system 2007 vintage.
K-MAC ST 4000 ist eine Hochleistungs-Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für Qualitätskontrolle und Fertigungsprozessschritte entwickelt wurde. Es kann den vollen Chip erfassen und die Bildanalysezeit erheblich reduzieren. Es ist mit bis zu 4 Kameras ausgestattet und bietet Platz für 2 Wafer gleichzeitig für hocheffiziente Inspektion und Produktion. ST 4000 verfügt über ein automatisiertes Wafer-Loader-System, das mehrere Menü-Rezepte einstellen kann. Es bietet eine hohe Anordnungsdichte von Inspektionsbildern und Multibreite Shorts, mehrere Arten von Wafer-Defekten, und andere Arten von automatischen Alterungsfehlern (wie Backen und Luftreinigung) können mit der Unterstützung von Open Source Intelligence-Software identifiziert werden. K-MAC ST 4000 nutzt eine konfokale Mikroskopieeinheit zur Laserabtastung zur präzisen Abbildung von Defektbereichen. ST 4000 verfügt über eine leistungsstarke Verarbeitungsleistung, die es ermöglicht, Testdaten und -ergebnisse viel schneller als bisher zu verarbeiten. Es ist mit einer fortschrittlichen Autofokus-Maschine ausgestattet, mit der Benutzer hochpräzise Bilder mit geringem Rauschen aufnehmen können. In Kombination mit dem automatisierten Waferlader reduziert dieses Werkzeug die Taktzeit erheblich und verbessert die Prüfgenauigkeit. Die integrierte Software von K-MAC ST 4000 bietet eine vollständige Rückverfolgbarkeitskontrolle, Bildanalyse und Datenspeicherung. Die Software sammelt und speichert Daten aus Inspektion und Produktion, um Echtzeit-Feedback an die Fabriklinie zu liefern. ST 4000 kommt auch mit einer robusten Vergegenwärtigungssoftware und Hochleistungsbildaufbereitungsverarbeitungsfähigkeiten für Benutzer, auf Bilder schnell zuzugreifen. K-MAC ST 4000 verfügt über eine Offline-Programmentwicklungsfähigkeit, die es Anwendern ermöglicht, neue Inspektionen zu entwickeln, ohne die Produktion zu stören. Insgesamt ist ST 4000 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektion, die volle Chips erfassen kann. Es bietet leistungsstarke Verarbeitung, automatisiertes Wafer-Laden, präzise Bild- und Bildanalysefunktionen und integrierte Software zur Datenspeicherung und -rückmeldung. Dieses Modell bietet effiziente Inspektions- und Produktionszykluszeiten, verbesserte Genauigkeit und verbesserte Rückverfolgbarkeit und Kontrolle des Herstellungsprozesses.
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