Gebraucht K-MAC Ster #293650375 zu verkaufen

K-MAC Ster ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die den Durchsatz steigern und die Inspektionskosten für Halbleiterherstellungsprozesse senken soll. Das System verwendet fortschrittliche Kameras, Algorithmen und Mustererkennungstechniken, um umfassende Scans von Wafern und Masken auf Anomalien und Defekte durchzuführen. Die robuste und leichte Ster-Einheit kombiniert eine hochauflösende Wafer- und Maskeninspektionskamera, eine zuverlässige Hochleistungs-Beleuchtungs- und Bildverarbeitungseinheit, um zuverlässige und genaue Inspektionsergebnisse zu liefern. Die Maschine ist in der Lage, einzelne oder mehrere Masken gleichzeitig zu überprüfen und kann sowohl globale als auch lokale Fehler erkennen. Darüber hinaus ist das Tool so konzipiert, dass es hochgradig anpassbar ist, sodass Benutzer innerhalb von Minuten einen benutzerdefinierten Scan einrichten können. K-MAC Ster bietet mehrere Analysemodi, von der groben Fehlererkennung bis zur Sub-Pixel-Analyse. Durch die Verwendung von Mustererkennungsalgorithmen und Inspektionsparametern kann das Asset Fehler schnell und genau lokalisieren und identifizieren. Darüber hinaus verfügt das Modell über eine Vielzahl von Fehlerdefinitionsparametern, mit denen Benutzer Scankriterien an ihre spezifischen Anforderungen anpassen können. Die verbesserte Bildqualität von Ster reduziert auch Fehlalarme erheblich. Fehlalarme sind Schallauslöser, die aufgrund falscher Geräteeinstellungen oder falscher Fehlerauswertung auftreten. Dies führt zu aufwendigen und umfangreichen Nacharbeiten. Ausgefeilte Bildverbesserungsfunktionen wie Bildschärfen, Denoisieren und Kantenverbesserungsalgorithmen reduzieren jedoch Fehlalarme und erhöhen die Genauigkeit erheblich. Um die Zuverlässigkeit des Systems weiter zu verbessern, führt K-MAC Ster auch schnelle und genaue Messungen der Fehlergrößen und -orte durch, mit denen Defekte über mehrere Masken- und Waferzyklen verfolgt werden können. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Fehlerverwaltungseinheit Benutzern, eine unbegrenzte Anzahl von Inspektionen zu überprüfen, zu ändern und zu speichern und Ergebnisse über mehrere Scans hinweg zu vergleichen. Neben der schnellen und genauen Fehlererkennung wurde Ster entwickelt, um den Workflow zu vereinfachen und die Produktivität des Bedieners zu steigern, sodass Anwender höhere Erträge erzielen, Kosten senken und die Leistung verbessern können. Damit ist K-MAC Ster die ideale Wahl für Halbleiterfertigungslabore, die nach einer automatisierten Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine suchen, die kostengünstig und hocheffizient hochwertige Ergebnisse liefern kann.