Gebraucht KLA / ICOS CI 5150 #9279505 zu verkaufen

KLA/ICOS CI 5150 ist eine hochmoderne Masken- und Waferinspektionsanlage für die Halbleiterverarbeitung. Es wurde entwickelt, um Hochgeschwindigkeits-automatisierte Inspektion kritischer Prozessbereiche auf Chips mit fortschrittlichen Lithographietechniken zu ermöglichen. Das System ist mit einer erweiterten CCD-Bildverarbeitungseinheit ausgestattet, die Bilder mit einer Auflösung von bis zu 25 Mikron pro Pixel aufnimmt. Die Maschine führt dann eine Reihe fortschrittlicher Bildverarbeitungstechniken durch, einschließlich der Verwendung von Filtern zur Identifizierung potenzieller Fehler. Anschließend werden die Bilder von einem Fehlererkennungsalgorithmus analysiert und ausgewertet, der die identifizierten Fehler erkennt, klassifiziert und misst. Das Werkzeug kann gleichzeitig bis zu 128 Masken und Wafer gleichzeitig inspizieren und ermöglicht die Produktion von Chips mit hohem Durchsatz bei hohen Stückzahlen. KLA CI 5150 enthält ein integriertes Mikroskop-Asset, das die Überprüfung von Chip-Funktionen bis zu 0,25 Mikrometer ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Inspektionsmodell über eine einzigartige Kontrasteinstellfunktion, mit der das Gerät Fehler erkennen kann, die in Größe oder Helligkeit erheblich variieren. ICOS CI-5150 enthält auch zusätzliche Funktionen zur Verbesserung der Benutzerfreundlichkeit. Das System umfasst eine einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI), die den Betreibern eine Echtzeit-Betrachtung und Analyse von Fehlerbildern ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine intelligente und automatisierte Ausrichtungsfunktion, die es der Maschine ermöglicht, komplexe Muster mit den Zielmustern auf dem Chip auszurichten. Das Werkzeug ist äußerst effizient konzipiert, um einen hohen Durchsatz zu erhalten und die hohen Anforderungen der Halbleiterchipproduktion zu erfüllen. In Kombination mit seiner Erschwinglichkeit ist die UCK CI-5150 eine attraktive Lösung für die Inspektion und Validierung von Masken und Wafern während der Halbleiterproduktion.