Gebraucht KLA / ICOS CI 8250 #293602014 zu verkaufen

KLA/ICOS CI 8250 Maske und Wafer Inspection Equipment ist eine umfassende, leistungsstarke automatisierte Inspektionslösung. Entwickelt für Masken- und Waferanwendungen verwendet es hochauflösende Kameras und angetriebene Dual-Achsen-Bewegungsstufen, um Fehler in den mikroelektronischen Geräten zu scannen und zu erkennen. Inspektion ist ein entscheidender Faktor bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen und KLA CI 8250 verwendet fortschrittliche Mustererkennungstechnologien, um eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten. Jedes Gerät wird in einem Schritt-für-Schritt-Prozess inspiziert, angefangen bei der einfachen Abbildung jedes Teils und der Identifizierung von Kanten und anderen Merkmalen vor der detaillierten Inspektionsphase. Das System verfügt über eine Reihe von Funktionen und Funktionen, um hohe Leistung und Zuverlässigkeit zu gewährleisten. Wafer und Maske können gleichzeitig gelesen und analysiert werden und jede der beiden Kameras bietet 1,2x und 5x Vergrößerungen für maximale Genauigkeit. Die Fokussierung kann auch an jeder Stelle während des Prozesses für eine verbesserte Präzision eingestellt werden. Ein ausgeklügelter Mustererkennungsalgorithmus führt dann den Inspektionsprozess durch. Das Gerät kann kleinere Defekte, tote Stellen und andere Probleme bis zu 1 µm im Wafer und 0,14 µm in Maskenanwendungen erkennen. ICOS CI-8250 enthält auch eine Reihe von Software-Tools, um den Prozess mit Qualitätsmetriken, Ertragsanalysen und anderen Datenmetriken zu verbessern. Diese erweiterten Funktionen ermöglichen es der Maschine, eine breite Palette von Defekten auf Sub-Mikron-Ebenen mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu erkennen. Das Werkzeug bietet sowohl statische als auch dynamische Inspektion, wobei letztere mehrere Iterationen ermöglicht, wenn ein Fehler erkannt wird; Dies ermöglicht eine leistungsstarke Überprüfung der Qualitätssicherung bei einer breiten Produktpalette. Neben seinen erweiterten Inspektionsmöglichkeiten bietet ICOS CI 8250 auch automatische Rezepterstellung und sichere Testdatenverwaltungsfunktionen. Die Benutzeroberfläche verfügt über ein einfaches, intuitives Design, das die Einrichtung und Nutzung des Assets vereinfacht. Das Modell erfüllt alle relevanten Sicherheitsstandards und ist mit einer Vielzahl von Halbleiterprozessen kompatibel. Insgesamt ist CI-8250 Mask and Wafer Inspection Equipment eine fortschrittliche automatisierte Lösung zur genauen und wiederholbaren Erkennung von Defekten in Halbleiterteilen. Es verfügt über eine breite Palette von Funktionen, darunter hochauflösende Kameras, Submikron-Erkennungs- und mehrstufige Inspektionsprozesse, gepaart mit fortschrittlichen Softwarefunktionen für Qualitätssicherung und sicheres Testdatenmanagement.