Gebraucht KLA / ICOS CI 8250 #9053897 zu verkaufen

KLA/ICOS CI 8250 ist eine hochentwickelte Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung. Es wurde entwickelt, um verschiedene Defekte sowohl an Halbleiterphotomasken als auch an Wafern während des Herstellungsprozesses zu erkennen, zu analysieren und zu klassifizieren. Das System besteht aus einer optischen Inspektionseinheit, einer Wafer- und Maskenreinigungsmaschine und einem Defektklassierwerkzeug. Die erweiterte optische Inspektion Asset hat drei verschiedene optische Köpfe, die jeweils unterschiedliche Maske und Wafer-Größen aufnehmen können. Jeder Kopf kann eine Vielzahl unterschiedlicher Größe und Art von Defekten erkennen, wie Linienbreite oder Formvariationen, Fremdmaterialeinschlüsse, Dunst, Hohlräume, Verzug und andere Oberflächenunregelmäßigkeiten. Das Wafer- und Maskenreinigungsmodell wurde entwickelt, um Masken und Wafer vor der Inspektion gründlich zu reinigen und maximale Genauigkeit zu gewährleisten. Dieses Gerät verwendet proprietäre Technologien und Verfahren, die in der Lage sind, selbst kleinste Partikel von der Oberfläche zu entfernen. Schließlich besteht das Fehlerklassifizierungssystem aus leistungsfähigen Bildverarbeitungsalgorithmen, die zur Identifizierung jedes Fehlertyps ausgelegt sind. Dadurch kann das Gerät nicht nur das Vorhandensein eines Defekts erkennen, sondern auch jede Art von Defekt für eine weitere Analyse genau klassifizieren. Die Maschine kann sogar die Schwere eines bestimmten Defekts klassifizieren, was optimale Korrekturstrategien während des Herstellungsprozesses ermöglicht. Insgesamt ist KLA CI 8250 ein leistungsstarkes und anspruchsvolles Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug, das eine hohe Qualität und Genauigkeit während des gesamten Halbleiterherstellungsprozesses gewährleisten kann. Seine Fähigkeit, verschiedene Arten von Defekten zu erkennen und genau zu klassifizieren, ermöglicht es Herstellern, potenzielle Probleme schnell und effektiv zu identifizieren und zu beheben. Die Anlage ist in der Lage, Zeit, Materialien und Arbeitskosten zu reduzieren, die mit der Behebung von Fehlern im Herstellungsprozess verbunden sind, was sie zu einem unschätzbaren Werkzeug für jeden Halbleiterhersteller macht.