Gebraucht KLA / ICOS CI 8250 #9099090 zu verkaufen

KLA / ICOS CI 8250
ID: 9099090
Weinlese: 1997
Trim and form system 1997 vintage.
KLA/ICOS CI 8250 ist eine fortschrittliche automatisierte Wafer- und Maskeninspektionsanlage, die speziell für die Integration in Halbleiterherstellungsabläufe entwickelt wurde. Das System nutzt 200 KV Monte Carlo X-Ray Technologie und fortschrittliche automatisierte Fehlererkennung und Klassifizierung Algorithmen, um die detaillierteste Bildgebung zur Verfügung zu stellen und die höchste Qualität der Wafer und Maske zu gewährleisten. Die 8250-Einheit verfügt über eine robuste Mustererkennungsmaschine, die eine automatische Erkennung von Defekten auf Wafer- und Maskensubstraten ermöglicht. Dadurch können selbst komplexeste Defekte, einschließlich Leerstellen, Markierungen und Brüche, erkannt werden. Ein eingebetteter benutzerdefinierter Fehlerüberprüfungsmodus bietet auch erweiterte Bedienungs- und Überprüfungsfunktionen für optimale Fehlererkennung und Klassifizierungsgenauigkeit. Die Maschine verfügt über einen großflächigen Abbildungsarbeitsbereich, mit dem bis zu 20.000 Wafer- oder Maskenbilder in einem einzigen Scan identifiziert werden können. Die Fähigkeit, eine große Fläche schnell zu inspizieren, ermöglicht es dem 8250, die Inspektionszeit erheblich zu reduzieren und schnell genaue Ergebnisse zu liefern. Die 8250 ist so konzipiert, dass sie in die Prozessströme von Halbleiterproduktionsanlagen integriert werden kann. Es enthält eine voll funktionsfähige Frontend-Schnittstelle, die an die Bedürfnisse und Anwendungen der Fabrik angepasst werden kann. Es umfasst auch ein leistungsstarkes Backend-Datenspeicher- und -Abruftool, das eine hohe Datenintegrität und -sicherheit gewährleistet. Diese Anlage ist zuverlässig und einfach zu bedienen, liefert wiederholbare und genaue Inspektionsergebnisse und ermöglicht es, sie in einer Vielzahl von Produktionslinien-Anwendungen zu verwenden. Es bietet hervorragende Ergebnisse, auch bei der Überprüfung der komplexesten Wafer- und Maskenmuster und Funktionen. Durch die Kombination von Geschwindigkeit, Genauigkeit und Flexibilität setzt KLA CI 8250 den Standard für die Masken- und Waferinspektion.
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