Gebraucht KLA / ICOS CI 8250 #9110005 zu verkaufen

KLA/ICOS CI 8250 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für die Ausführung kritischer Halbleiterverarbeitungsschritte mit hohem Volumen und hoher Genauigkeit ausgelegt ist. KLA CI 8250 nutzt eine hochmoderne Kombination aus modernster Bildverarbeitungs- und Fehlererkennungstechnologie, um Defekte an Masken und Wafern schnell und präzise zu identifizieren. Durch frühzeitige Erkennung und Korrektur von Fehlern im Herstellungsprozess kann das System dazu beitragen, Kosten im Zusammenhang mit verzögerten Nacharbeiten und Ertragsverlusten zu reduzieren. ICOS CI-8250 wird mit einer fortgeschrittenen optischen Einheit ausgestattet, die eine fortgeschrittene Unendlichkeit corrected/apochromatic/plan-corrected objektive Linse für die treue Stichprobenerhebung von hochauflösenden Linienraummusternetzen zeigt, die für die verbesserte Genauigkeit der Defektentdeckung notwendig ist. Seine anpassbare Beleuchtung verfügt über eine variable Flächenbeleuchtung Muster, so dass Maske und Wafer Defekt Inspektion mit großer Flexibilität und optimale Gleichmäßigkeit. CI-8250 ist durch die Integration mehrerer gerätespezifischer Fehlermessungen in der Lage, hochpräzise Fehlermessungen durchzuführen. Die integrierte hochgenaue 3D-Inspektionstechnologie kann Gerätefunktionen bis zu 70nm mit beispielloser Genauigkeit messen und ermöglicht eine optimale Identifizierung und Klassifizierung. Die Maschine unterstützt auch flexible Masken-/Waferausrichtung für eine verbesserte Effizienz, mit der Fähigkeit, Mustertypen mit 30nm Overlay-Genauigkeit zu identifizieren und auszurichten. Die leistungsstarken Analysefunktionen von ICOS CI 8250 können das Rauschen komplexer proprietärer Daten aus einer Reihe unterschiedlicher Quellen durchschneiden. Das Tool ermöglicht prädiktive Analysen, indem es die leistungsstarken prädiktiven Algorithmen mit Prozessdaten kombiniert, die aus mehreren Quellen auf der gesamten Fertigungsfläche gesammelt werden. Dies bietet Einblicke in die zukünftige Geräteleistung und ermöglicht proaktive Lösungsstrategien. Predictive Analytics kann auch helfen, Fehler auf Gerätestufe zu identifizieren, zu trialisieren und zu klassifizieren, um die Ertragsergebnisse zu optimieren. Das Asset unterstützt auch Standard-Websprachen wie XML, JSON und MQTT und ermöglicht einen nahtlosen Datenaustausch zwischen ihm und externen Systemen. Es ist auch kompatibel mit der wichtigsten Software einschließlich JTAG, IEEE1532 Standard Edition 2. Es wird auch durch prioritäre Unterstützung und strenge Fabrikzertifizierungsprozesse für höchste Servicequalität unterstützt. Alles in allem ist der zuverlässige und umfassende CI 8250 die ideale Wahl für die volumenreiche, hochgenaue Masken- und Waferinspektion. Es misst und bewertet Masken/Wafer mit großer Genauigkeit und ermöglicht prädiktive Analysen für eine effiziente und effektive Geräteprüfung.