Gebraucht KLA / ICOS CI 8250 #9111213 zu verkaufen

KLA / ICOS CI 8250
ID: 9111213
Inspection system Currently non-operational.
KLA/ICOS CI 8250 ist eine hochmoderne Masken- und Waferinspektionsanlage, die auf die Bedürfnisse der Halbleiterindustrie zugeschnitten ist. Dieses automatisierte Tool kombiniert fortschrittliche optische und Softwaresysteme, um mögliche Fehler an Wafern während des Inspektionsprozesses schnell und genau zu erkennen, zu klassifizieren und zu messen. KLA CI 8250 verwendet ein hochauflösendes brightfield optisches Mikroskop mit einer Entschlossenheit von 5 Nanometer, sowie einem parallelen Kontaktpersonenpunktmusteranerkennungssystem. Auf diese Weise kann das Gerät eine Vielzahl von Defekten erfassen, klassifizieren und messen, darunter Kratzer, Partikelschutt, Linienrauhigkeit, Löcher und Teilverschiebungen. Die Maschine kann auch Änderungen in kritischen Abmessungen erkennen, was eine effiziente Qualitätskontrolle ermöglicht. ICOS CI-8250 bietet auch erweiterte Softwarefunktionen. Es enthält eine Reihe von Software-Tools zur Unterstützung bei der Fehleranalyse, einschließlich Fehlerbilderfassungssoftware (IMAX), Fehlerüberprüfungssoftware (FOTOS) und Scan-to-Review-Software (WAVER). Mit diesen Tools können Benutzer Fehler schnell klassifizieren und quantifizieren und Prozessingenieure benachrichtigen, wenn Fehler einen Schwellenwert überschreiten. Darüber hinaus verfügt CI 8250 über eine benutzerfreundliche Oberfläche, die eine effiziente und intuitive Bedienung ermöglicht. Es verfügt auch über eine fortschrittliche Roboterautomatisierung, die eine automatisierte Bearbeitung und Sortierung von Proben ermöglicht. Mehrere Probenhalter können verwendet werden, einschließlich flacher Wafer-Probenhalter, Signalintegritätsarray-Probenhalter und Schritt-und-Wiederholungs-Probenhalter. So können Anwender CI-8250 für eine Vielzahl von Inspektions- und Analyseanwendungen optimieren. Zusammengefasst bietet KLA CI-8250 Masken- und Wafer-Inspektionstool leistungsfähige optische und Softwaresysteme, um mögliche Fehler während des Inspektionsprozesses schnell und genau zu beurteilen. Dieses automatisierte Tool wurde entwickelt, um den Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht zu werden und bietet fortschrittliche Roboterautomatisierung, benutzerfreundliche Schnittstellen und eine Reihe von Software-Tools zur Unterstützung der Fehleranalyse.
Es liegen noch keine Bewertungen vor