Gebraucht KLA / ICOS CI 8250 #9208706 zu verkaufen

KLA/ICOS CI 8250 ist eine hochentwickelte Mikrolithographie-Maske und Wafer-Inspektionsausrüstung. Es wurde entwickelt, um die neuesten Anforderungen an die Maskeninspektion und Fehlererkennung auf Waferebene zu unterstützen, die durch die eskalierenden Prozesskomplexitäten von Halbleitern der neuesten Generation gefordert werden. Es bietet Kunden die richtigen Werkzeuge, um Maskenfehler und andere verwandte Bereiche genau zu überprüfen und zu überprüfen. KLA CI 8250 bietet das höchste Maß an Bildqualität und Fehlererkennung für die Masken- und Waferinspektion. Das System verfügt über eine fortschrittliche Lichtquelle mit zwei hochauflösenden Digitalkameras zur Anzeige von Funktionen auf Stanzebene. Es hat auch eine Scanauflösung von 5 Mikrometern, drei LED-Lichtmotoren, die eine gleichmäßige Beleuchtung im Feld und einen Messbereich von 20mm bis 305mm bieten. Darüber hinaus ist die 8-Zoll-Flachbildschirm-X-Y-Stufe für einfaches Be- und Entladen von Proben ausgelegt, was die Exposition gegenüber Partikeln minimiert. Die 8250 verfügt außerdem über eine automatisierte Vermessungs- und Ausrichtungseinheit zur Untersuchung von Proben in x- und y-Richtung und kann Fehler erkennen und/oder klassifizieren, um konsistente, schnelle und wiederholbare Inspektionen zu ermöglichen. Die Maschine ist mit einem reinraumfreundlichen Gehäuse entworfen, um jede Bestrahlung durch Eingriff des Bedieners zu reduzieren, und bietet eine Reihe von optionalen Umweltkontrolleinheiten (ECUs), um konsistente Feuchtigkeit und Temperaturbedingungen aufrechtzuerhalten, um eine qualitativ hochwertige Inspektion bei jedem Schritt des Prozesses auf maximale Genauigkeit zu gewährleisten. Darüber hinaus verfügt ICOS CI-8250 über automatisierte On-Board-Qualitätskontrollen, die es Anwendern ermöglichen, Inspektionen schnell einzurichten und durchzuführen. Mit einem intuitiven Bedienungstool können Benutzer Ergebnisse messen, melden, protokollieren und vergleichen und so das Fehlermuster leicht analysieren und verstehen. Mithilfe leistungsstarker Algorithmen kann das Asset Fehler schneller und genauer lokalisieren und charakterisieren als herkömmliche Methoden. Der 8250 ist ein revolutionäres UCK-Produkt, das maximale Flexibilität und Präzision für Maskenanalyse, Waferinspektion und Fehlercharakterisierung kombiniert. Es bietet die ultimative Genauigkeit und Produktivität in einer hochwertigen, kostengünstigen Lösung zur Inspektion von Wafer-Defekten.