Gebraucht KLA / ICOS CI 9450 #9159892 zu verkaufen

KLA/ICOS CI 9450 Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine hochmoderne Bildgebungstechnologie zur Erkennung von Fehlern und Defekten in optischen Masken und Halbleiterscheiben. Dieses fortschrittliche Inspektionssystem verwendet eine ultrahochauflösende Kamera, fortschrittliche Messtechnik und Inspektionsalgorithmen und eine automatisierte Wafer-Handhabungseinheit, um eine transmissive Bildprüfung von optisch opaken Substraten wie Maskenfilmen, Nicht-Silizium-Substraten und Verbundhalbleitern durchzuführen. Die Maschine bietet eine Reihe von Funktionen und Vorteilen, um den Inspektionsprozess zu optimieren. Das Inspektionswerkzeug verfügt über ein Synchronlaser-Streugerät, das eine Hochgeschwindigkeitsbildgebung und Messtechnik ermöglicht. Dadurch kann das Asset subtile Fehler und Muster auf der Oberfläche einer Maske oder eines Wafers erkennen und messen. Darüber hinaus verfügt das Modell über eine vertikale Geometrie, die den Durchsatz und die Genauigkeit erhöht. Die fortschrittliche Optik des Geräts stellt sicher, dass die Inspektion extrem einheitlich ist, sodass Unregelmäßigkeiten leicht erkannt werden können. Das System ist auch in der Lage, eine Vielzahl von automatisierten Wafer-Handhabungsoptionen durchzuführen. Es verfügt über eine Scanwiege, die Fehler genau lokalisieren kann, sowie automatisierte Zuordnungsfunktionen. Die KLA CI 9450 Mask & Wafer Inspection Unit ist auch in der Lage, mit ihrer Hochleistungs-Computerplattform riesige Datenmengen zu erfassen, abzubilden und zu manipulieren. Dadurch können selbst komplexeste Mängel schnell erkannt und identifiziert werden. Die Maschine enthält auch fortschrittliche Inspektionsalgorithmen, mit denen sie riesige Datenmengen verarbeiten und intelligente Entscheidungen treffen kann. Dies sorgt für eine zusätzliche Genauigkeit und Geschwindigkeit des Inspektionsprozesses. Das Inspektionswerkzeug verfügt zudem über einen umfangreichen Speicher, der es ermöglicht, den gesamten Inspektionsdatensatz zu speichern. Dies ist nützlich für die Berechnung und Analyse von Defektmetriken. ICOS CI-9450 ist eine fortschrittliche bildgebende Technologie zur präzisen Inspektion von optischen Masken und Halbleiterscheiben. Modernste Funktionen, fortschrittliche Algorithmen und automatisierte Wafer-Handling-Funktionen sorgen für höchste Prüfgenauigkeit und Geschwindigkeit. Diese Ressource ist eine zuverlässige, kostengünstige Lösung, um sicherzustellen, dass Masken und Wafer hohen Qualitätsstandards entsprechen.