Gebraucht KLA / ICOS CI 9450 #9230345 zu verkaufen

ID: 9230345
Weinlese: 2005
Inspection systems For QFP, QFN and BGA application (2) TNR (2) Tray to tray Tray to tape 2005 vintage.
KLA/ICOS CI 9450 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein semiautomatisiertes Mikroskop zur detaillierten visuellen Untersuchung von Masken und Wafern in einer Vielzahl kritischer Dimensionen. Sie eignet sich insbesondere zur Inspektion von kontakt- und durchgangsdefinierten Strukturen auf aktiven Bauelementschichten von Halbleiterscheiben, Dünnschichten und MEMS-Bauelementen. Das System ist mit einer datenangereicherten digitalen hochauflösenden Optik, einer Lichtquelle von UV bis Infrarot und einer Reihe von Filterfunktionen ausgestattet. Es hat die Fähigkeit, Fehler und Funktionen bis zu einem Mikron in der Größe genau aufzudecken. Die integrierten Farbmodi Hellfeld, Dunkelfeld und RGB bieten einen verbesserten Kontrast bei der Erkennung subtiler Muster und Muster. Eine große Arbeitsfläche von 50mm ermöglicht es Benutzern, mit größeren Proben zu arbeiten, während der integrierte Stagedrive Probenverzerrungen kompensiert. KLA CI 9450 bietet auch kundenspezifische automatisierte Messfunktionen für interessante Regionen, was den Anwendern Zeit im Vergleich zu manuellen Messtechniken sparen kann. Es wird auch mit Hochgeschwindigkeitsdatenübertragungsfähigkeiten für das schnelle Download von Daten von Gastgeber-PCs und Netzwerkverbindungen ausgestattet. Dies hilft bei der Automatisierung der Bildaufnahme und anschließenden Bildverarbeitung und -analyse. ICOS CI-9450 enthält einen optisch isolierten physikalischen Rahmen, um Störgeräusche zu vermeiden und die Wartung der Einheit zu reduzieren. Es enthält auch einen ASIC, um die Integrationszeit der Maschine zusammen mit dem integrierten Schritt-und-Wiederholen-Scan-Modus zu reduzieren. Dies hilft, das Werkzeug in der Lage, kontinuierliche Qualitätskontrolle für hohe Serien zu machen. Insgesamt ist KLA CI-9450 Mask & Wafer Inspection Asset ein fortschrittliches und dennoch zugängliches Werkzeug für Halbleiter-, Dünnschicht- und MEMS-Qualitätskontrolle und Bildgebung. Sein Design und seine Funktionen integrieren eine Reihe von Tools, um Anwendern zu helfen, potenzielle Fehler in Proben schnell zu identifizieren, sowie die Größe und Lage der Funktionen mit benutzerdefinierten automatisierten Messungen genau zu messen. Seine Leistungsfähigkeit und Datenübertragungsfunktionen gewährleisten hohe Qualität, hohen Durchsatz und faktische Ergebnisse.
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