Gebraucht KLA / ICOS CI 9450 #9384067 zu verkaufen

KLA/ICOS CI 9450 Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind ein automatisiertes Messsystem zur Inspektion von Halbleitermasken und Wafern. Das Gerät ist in der Lage, Funktionsgrößen und -formen zu messen, gute und schlechte Werkzeuge zu verifizieren und eine umfassende manuelle und automatische Fehlerüberprüfung für eine breite Palette von Wafern bereitzustellen. KLA CI 9450 ist mit einem Paar rotierender optischer Systeme ausgestattet, mit denen Benutzer eine breite Palette von Bildern und Diagrammen eines Wafers erfassen können. Die erste optische Maschine besteht aus mehreren Kameras, die einzelne Bilder zur Inspektion aufnehmen können. Das zweite optische Werkzeug ist eine integrierte Weitwinkelkamera, die hohe Vergrößerungsbilder von Funktionsgrößen ermöglicht. ICOS CI-9450 ist mit einem leistungsstarken digitalen Bildprozessor (DIP) ausgestattet, der eine Vielzahl von Sondierungs-, Bildgebungs- und Analyseaufgaben durchführt. Das DIP ist in der Lage, Hunderte von Bildern in einem einzigen Zyklus zu erfassen und einen proprietären Software-Algorithmus zu verwenden, um sie in Gruppen oder Bereiche für weitere Überprüfung zu sortieren. Das Asset verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, die das Manipulieren der Daten einfach und effizient macht. Das Modell ist in der Lage Submikron-Strukturen auf der Maske oder Wafer zu messen, wie metallische über Löcher, TSV 's, Sub-Viertel Mikron Linien, und Motive. Es hat auch die Fähigkeit, komplexe Defekte wie Nanopatches, Maskenschichtdefekte, Kantendefekte, Partikel, Kratzer und Fremdmaterialien zu erkennen. Darüber hinaus können KLA/ICOS CI-9450 Gleichmäßigkeitsfehler in Masken und Wafern erkennen sowie fehlerhafte Stempel auf Wafern erkennen und identifizieren. KLA CI-9450 verfügt über ein kompaktes, robustes Gehäuse mit einer Reihe von ergonomischen Eigenschaften, wodurch die Ausrüstung ein Druckknopf zum Einrichten und Bedienen ist. Ein eingebauter Lüfter hält die Optik kühl und hilft bei der Wartung der optischen Systeme. Sein hochauflösendes optisches System kann auch zur Inspektion von Proben verwendet werden, die auf nicht flachen Oberflächen montiert sind, so dass Benutzer Proben inspizieren können, die nicht perfekt flach sind. Abschließend ist die Masken- und Wafer-Inspektionseinheit CI 9450 eine zuverlässige und robuste Maschine, die sich ideal für eine schnelle, präzise Messtechnik und Fehleranalyse eignet. Die integrierten optischen Systeme, DIP und die intuitive grafische Benutzeroberfläche machen es Anwendern leicht, Halbleitermasken und Wafer mit hoher Genauigkeit und Durchsatz zu überprüfen.