Gebraucht KLA / ICOS CI-T120 #293660494 zu verkaufen

KLA/ICOS CI-T120 Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind eine fortschrittliche Messtechnik-Lösung zur Reduzierung der Qualitätskontrollkosten und der Prozesszeit in der Halbleiterherstellung. Es verwendet hochauflösende Bildgebungs- und 3D-Scantechnologien, um eine schnelle und hochpräzise Analyse von Masken- und Wafer-Geräten zu ermöglichen. Mit einem großen Sichtfeld und automatisiertem Wafer-Mapping bietet das System einen verbesserten Durchsatz, Genauigkeit und Prozessausbeute. Die KLA CI T120 umfasst eine breite Palette austauschbarer Werkzeuge und Sensoren, darunter ein automatisiertes Fokusmodul, eine 3D-Oberflächenmesstechnik und eine hochauflösende Bildgebungsmaschine. Mit dem Fokusmodul kann es schnelle und präzise Messungen kritischer Abmessungen (CD), Overlay und vertikaler Strukturen durchführen. Eine hochauflösende Abbildung ermöglicht dem Werkzeug eine schnelle Wafer-Abbildung und eine unübertroffene 3D-Oberflächenmesstechnik. Mit seinen Multifokus- und Multi-View-Funktionen kann das Asset für eine Reihe von Wafergrößen und Maskenformaten konfiguriert werden, und seine intuitive Benutzeroberfläche macht die Navigation und Steuerung einfach. ICOS CI T-120 verfügt über automatisierte Prozessrezepte und zuverlässige Datenanalyse, die Rüstzeit und Bedienungsfehler reduziert. Automatisierte Wafer-Zuordnung ermöglicht es Benutzern, jeden Teil eines Geräts schnell und genau abzubilden, während automatische Analysen und die Erstellung von Berichten die Prozesskontrolle verbessern. Das integrierte Tool zur Fehlerüberprüfung und -berichterstattung trägt zur Verbesserung der Prozesssicherheit und des Ertrags bei. Insgesamt ist CI T-120 Masken- und Wafer-Inspektionsmodell eine fortschrittliche, hochpräzise und kostengünstige Lösung für Halbleiterhersteller. Mit seinen austauschbaren Werkzeugen und Sensoren, automatisierten Prozessen und Kollaborationsfunktionen können Anwender höchste Genauigkeit, Durchsatz und Prozessausbeute erreichen.