Gebraucht KLA / ICOS CI-T120 #293812626 zu verkaufen

KLA/ICOS CI-T120 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die eine schnelle und genaue Fehlererkennung und Klassifizierung von optoelektronischen IC-Wafern ermöglicht. Dieses System kombiniert zwei Technologien, einen Die-to-Database-Ausrichtungsalgorithmus und eine UCK-Bildgebungseinheit. Der Ausrichtungsalgorithmus der Maschine bietet eine umfassende Anpassung zwischen Wafern und Schaltungsmasken an die Datenbank, um Fehler detailliert identifizieren zu können, bevor ein einziger Wafer fertig ist. Dieses Merkmal gewährleistet eine maximale Montagequalität durch Fangfehler in der Frühphase der Waferaufbereitung. ICOS Imaging Tool verwendet eine Vielzahl von fortschrittlichen Optik, Sensoren und LED-Beleuchtung, um knackige Bilder der gesamten Waferoberfläche zu erzeugen. Dieses bildgebende Asset erfasst sowohl Fehlererkennungs- als auch Fehleranalysedaten, die für umfassende Berichte über Wafer- und Schaltungsdefekte verwendet werden können. Die KLA CI T120 enthält auch fortschrittliche Filteralgorithmen, die zur Reduzierung von Falsch-Positiven, zur Verbesserung der Empfindlichkeit und zur Erweiterung der Fehlerabdeckung auf die gesamte Matrize verwendet werden. Dieses Modell bietet auch lichtarme Bildgebungsfunktionen für eine verbesserte Fehlererkennung. Die umfassenden Fehlerdaten und Meldefunktionen des Geräts ermöglichen eine schnelle Identifizierung von Chipfehlern oder Herstellungsfehlern von Wafern. Dies, kombiniert mit der hohen Inspektionsgeschwindigkeit und Genauigkeit des Systems, machen es zu einer idealen Wahl für moderne Wafer-Produktionsprozesse. Das Gerät ist einfach zu bedienen und zu warten, so dass es sowohl für erfahrene Techniker als auch für neue Benutzer geeignet ist. Darüber hinaus bietet ICOS CI T-120 Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine erweiterte Konnektivitätsoptionen wie Ethernet, USB und Wi-Fi sowie verschiedene periphere Optionen, einschließlich, aber nicht beschränkt auf, einen integrierten Laserdrucker. Es ist auch kompatibel mit großen Halbleiter-Wafer Fabs. Insgesamt ist KLA/ICOS CI T-120 mask & wafer inspection tool eine leistungsfähige und zuverlässige Lösung zur schnellen und genauen Erkennung und Klassifizierung von optoelektronischen IC-Wafern. Es ist schnell, präzise Inspektionsgeschwindigkeit und umfassende Fehlererkennung und Reporting-Fähigkeiten machen es zu einer idealen Wahl für moderne Wafer-Produktionsprozesse.