Gebraucht KLA / ICOS CI-T120 #9101540 zu verkaufen

KLA/ICOS CI-T120 ist eine hochpräzise Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung für die fortschrittliche Halbleiterherstellung. Es bietet erweiterte Möglichkeiten zur Erkennung und Diagnose von Masken- und Waferdefekten und ist somit ideal für die Herstellung von führenden Halbleiterbauelementen. Die KLA CI T120 basiert auf einer modularen Plattform, die zwei Sensor- und Beleuchtungssysteme in einer Einheit kombiniert. Zu diesen Systemen gehören ein CMOS-Flächensensor, eine patentierte IQ ² Optiklösung und ein fortschrittliches Beleuchtungssystem. Der Flächensensor hat eine 24-Megapixel-Auflösung und verfügt über einen speziellen Nahinfrarotkanal für verbesserten Kontrast und Auflösung. Die IQ ² Optikeinheit bietet eine Vergrößerung bis zu 350x und eine erweiterte Schärfentiefe für verbesserte hochauflösende Bildgebung. Die Beleuchtungsmaschine verfügt über LED und UV-Lichtquellen und ermöglicht vielseitige Anwendungen mit schneller Opimisierung. ICOS CI T-120 bietet zudem umfassende Fehlerüberprüfungs- und Erkennungsfunktionen. Es führt eine ganze Reihe von Mängel Bewertungen, wie Maskenfehler, Musterfehler, Muster Kopien und Film Kontamination Bewertungen. Es führt auch eine automatisierte Fehlererkennung durch, einschließlich Partikelerkennung und -überprüfung und Formmessung. KLA CI T-120 verfügt über einen breiten Dynamikbereich und hohe Feldintensitäten und bietet eine maximale Fehlererkennung und Messgenauigkeit. ICOS CI T120 ist einfach zu bedienen und liefert dank seines fortschrittlichen automatisierten Fehlerüberprüfungsmodus schnelle Ergebnisse. Es ist für die Integration in Halbleiterherstellungsprozesse konzipiert und bietet umfassende Inspektionslösungen für fortschrittliche Halbleiterprozesse wie Waferbonden und Chipverpackungen. Das Tool ist auch mit leistungsstarken Software-Tools ausgestattet, die eine schnelle Datenanalyse, Bildmanipulation und Berichterstattung ermöglichen. Zusammenfassend ist KLA/ICOS CI T-120 eine hochpräzise Masken- und Wafer-Inspektion, die für die anspruchsvollsten Halbleiteranwendungen entwickelt wurde. Seine umfassenden Fehlererkennungs- und Diagnosefunktionen, kombiniert mit seiner Benutzerfreundlichkeit, machen es zu einer idealen Lösung für die Herstellung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente.