Gebraucht KLA / ICOS CI-T120 #9162541 zu verkaufen

KLA / ICOS CI-T120
ID: 9162541
Weinlese: 2008
Inspection system For GW 10H 3D GW Inspection (10) Heads Automatic pitch conversion X1 Input module X2 & X3 Output modules Windows OS: Win Xp Extra single tray sorting bin (X4) Display: LCD display, 17" Gull wing 3D inspection BGA 3D and bottom PVI inspection No 2D QFN / BCC Univ top plate Mark and aPVI option No burr inspection Mark inspection 45mm Lens EXT8 w/o filter: 60 mm, UV filter Barcode scanner USB ZCAL Gloden unit CSP Gloden unit GW Gloden unit GWT12 Gloden unit GW Inspection tool kit BGA Inspection tool kit Z1 10 Head CI-T1x0 Z2 Dual fixed head No ionizer kit SUNX standard Tray orientation kit (nf) Air blower set X1/LIM and MI: Only LIM 2008 vintage.
KLA/ICOS CI-T120 mask & wafer inspection equipment ist ein bildgebendes Werkzeug für die Herstellung von integrierten Schaltungen, die in verschiedenen elektronischen Produkten verwendet werden. Es bietet schnelles, zerstörungsfreies Scannen und Messen von Masken und Wafern auf Verunreinigungen und Defekte. Das System integriert fortschrittliche Messtechnik, Fehlerüberprüfung und Prozesskontrolltechnologien, um zuverlässige Inspektion und genaue Ergebnisse zu gewährleisten. KLA CI T120 ist eine Hochleistungseinheit mit einem Durchsatz von bis zu 3850 Wafern pro Stunde. Es ist entworfen, um auch die kleinsten Fehler bis zu 0,5 microns und kleiner zu erkennen. Es verwendet fortschrittliche Beleuchtungs- und Bildgebungstechniken, um eine präzise 3D-Wafer-Topographiemessung bereitzustellen. Die Maschine umfasst eine vielseitige Farbkamera und einen Inspektionskopf mit einem durchgehenden 360 ° drehbaren Sichtfeld. Das Tool verfügt über Auto-Partitionierung, die automatisch erkennt, identifiziert und beschriftet jede Maske/Wafer-Region, so dass eine genaue Ausrichtung, Registrierung und Vergleich. Es unterstützt sowohl die Fehlerausrichtung als auch die Drehfehlererkennung, die eine Klassifizierung, Überprüfung und Fehlerzählung ermöglicht. Es kann auch Fehlerentwurf und -größe beurteilen, so dass gemeinsame Defekte wie Partikel und Partikelcluster erkannt werden können. ICOS CI T-120 umfasst leistungsstarke Wafer-Messwerkzeuge wie Digital Marker Assisted Registration und Auto Focus-Funktionen, um eine schnelle und präzise Wafer-Position zu gewährleisten. Es verwendet fortschrittliche LED-Beleuchtung für hochpräzise Bildgebung und Analyse. Das automatisierte Tracking ermöglicht auch eine schnelle und konsistente Waferdatensammlung, -analyse und -extraktion. Darüber hinaus ermöglicht das Elektronik- und Softwarepaket des Asset eine schnelle Datenübertragung und -kommunikation. Darüber hinaus ist KLA/ICOS CI T-120 Modell für einfache Bedienung und Wartung mit ausgezeichneter Prozesskonsistenz über eine breite Palette von Produktionschargen konzipiert, um zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten. Der Equipment Monitor bietet ein detailliertes Echtzeit-Diagramm aller relevanten Prozessparameter und erleichtert die Wartung und Optimierung. Mit seiner benutzerfreundlichen Workbench-Software können Benutzer Symbole, Tools, Skripte und Aktionsverhalten zur Optimierung oder Prozesskontrolle anpassen.
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