Gebraucht KLA / ICOS CI-T120 #9162541 zu verkaufen
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ID: 9162541
Weinlese: 2008
Inspection system
For GW 10H
3D GW Inspection
(10) Heads
Automatic pitch conversion
X1 Input module
X2 & X3 Output modules
Windows OS: Win Xp
Extra single tray sorting bin (X4)
Display: LCD display, 17"
Gull wing 3D inspection
BGA 3D and bottom PVI inspection
No 2D QFN / BCC Univ top plate
Mark and aPVI option
No burr inspection
Mark inspection
45mm Lens EXT8 w/o filter: 60 mm, UV filter
Barcode scanner USB
ZCAL Gloden unit
CSP Gloden unit
GW Gloden unit
GWT12 Gloden unit
GW Inspection tool kit
BGA Inspection tool kit
Z1 10 Head CI-T1x0
Z2 Dual fixed head
No ionizer kit SUNX standard
Tray orientation kit (nf)
Air blower set X1/LIM and MI: Only LIM
2008 vintage.
KLA/ICOS CI-T120 mask & wafer inspection equipment ist ein bildgebendes Werkzeug für die Herstellung von integrierten Schaltungen, die in verschiedenen elektronischen Produkten verwendet werden. Es bietet schnelles, zerstörungsfreies Scannen und Messen von Masken und Wafern auf Verunreinigungen und Defekte. Das System integriert fortschrittliche Messtechnik, Fehlerüberprüfung und Prozesskontrolltechnologien, um zuverlässige Inspektion und genaue Ergebnisse zu gewährleisten. KLA CI T120 ist eine Hochleistungseinheit mit einem Durchsatz von bis zu 3850 Wafern pro Stunde. Es ist entworfen, um auch die kleinsten Fehler bis zu 0,5 microns und kleiner zu erkennen. Es verwendet fortschrittliche Beleuchtungs- und Bildgebungstechniken, um eine präzise 3D-Wafer-Topographiemessung bereitzustellen. Die Maschine umfasst eine vielseitige Farbkamera und einen Inspektionskopf mit einem durchgehenden 360 ° drehbaren Sichtfeld. Das Tool verfügt über Auto-Partitionierung, die automatisch erkennt, identifiziert und beschriftet jede Maske/Wafer-Region, so dass eine genaue Ausrichtung, Registrierung und Vergleich. Es unterstützt sowohl die Fehlerausrichtung als auch die Drehfehlererkennung, die eine Klassifizierung, Überprüfung und Fehlerzählung ermöglicht. Es kann auch Fehlerentwurf und -größe beurteilen, so dass gemeinsame Defekte wie Partikel und Partikelcluster erkannt werden können. ICOS CI T-120 umfasst leistungsstarke Wafer-Messwerkzeuge wie Digital Marker Assisted Registration und Auto Focus-Funktionen, um eine schnelle und präzise Wafer-Position zu gewährleisten. Es verwendet fortschrittliche LED-Beleuchtung für hochpräzise Bildgebung und Analyse. Das automatisierte Tracking ermöglicht auch eine schnelle und konsistente Waferdatensammlung, -analyse und -extraktion. Darüber hinaus ermöglicht das Elektronik- und Softwarepaket des Asset eine schnelle Datenübertragung und -kommunikation. Darüber hinaus ist KLA/ICOS CI T-120 Modell für einfache Bedienung und Wartung mit ausgezeichneter Prozesskonsistenz über eine breite Palette von Produktionschargen konzipiert, um zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten. Der Equipment Monitor bietet ein detailliertes Echtzeit-Diagramm aller relevanten Prozessparameter und erleichtert die Wartung und Optimierung. Mit seiner benutzerfreundlichen Workbench-Software können Benutzer Symbole, Tools, Skripte und Aktionsverhalten zur Optimierung oder Prozesskontrolle anpassen.
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