Gebraucht KLA / ICOS CI-T120 #9256279 zu verkaufen

KLA/ICOS CI-T120 Mask and Wafer Inspection Equipment ist eine fortschrittliche bildgebende Lösung für die Inspektion von Masken und Wafern, die in fortschrittlichen Halbleiterverpackungen verwendet werden. Das System kombiniert fortschrittliche Optik und hochempfindliche bildgebende Sensoren, um eine hervorragende Leistung und präzise Fehlerinspektion und -klassifizierung zu gewährleisten. KLA CI T120 verfügt über eine optische Einheit aus einer Kombination von Linsen und Spiegeln. Dadurch wird sichergestellt, dass sehr hochauflösende Bilder aufgenommen werden können, um detaillierte Inspektionsergebnisse zu erzielen. Darüber hinaus verfügt ICOS CI T-120 über ein erweitertes Sensor-Array zur direkten Erkennung von Defekten. Das Sensor-Array erfasst Muster in dem von der Probenoberfläche gestreuten Licht, wodurch Oberflächenmängel wie Kontaktlöcher, Gräben und andere Merkmale erkannt werden können. CI T120 bietet eine hervorragende Genauigkeit und Empfindlichkeit für Defekte. Seine hochgenauen Algorithmen zur Mustererkennung können Fehler mit Submikronauflösung erkennen und den Bediener in Echtzeit warnen, wodurch die für die manuelle Inspektion erforderliche Zeit reduziert wird. Zusätzlich unterstützt die Maschine die Vergleiche von zwei Bildern derselben Probe, die verwendet werden können, um Änderungen zwischen den beiden Bildern zu identifizieren und den Benutzer auf mögliche Fehler hinzuweisen. ICOS CI T120 ist mit einer hochmodernen Bildverarbeitungsmaschine ausgestattet. Dadurch kann das Werkzeug die Maskenmuster an jede gewünschte Orientierung anpassen oder den Kontrast oder die Helligkeit eines bestimmten Bildmerkmals ändern. Das Asset hat auch die Fähigkeit, Änderungen des Schwellenwerts vor und nach der Verarbeitung zu messen und Filter auf das Bild anzuwenden, wodurch unerwünschtes Rauschen beseitigt wird, um ein genaues Inspektionsergebnis zu gewährleisten. KLA CI nutzt T-120 eine digitale Bibliothek zur Speicherung von Bildern und Fehlerdaten, so dass der Benutzer einfach Datensätze abrufen und Ergebnisse überprüfen kann. Es kann auch über das Web oder eine Ethernet-Verbindung aus der Ferne aufgerufen werden, was es zu einer zuverlässigen und sicheren Lösung für die Masken- und Wafer-Inspektion von mobilen Geräten macht. Insgesamt ist ICOS CI-T120 Mask and Wafer Inspection Model eine leistungsstarke und anspruchsvolle bildgebende Lösung, die eine hervorragende Bildqualität und präzise Fehlererkennung bietet. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die nach einer zuverlässigen und sicheren Lösung für die Inspektion von Masken und Wafern für Halbleiterverpackungen suchen.