Gebraucht KLA / ICOS CI-T130 #293670281 zu verkaufen

KLA/ICOS CI-T130 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für hohe Durchsätze und Präzision bei Fehlerinspektionsanwendungen entwickelt wurde. KLA CI-T130 kombiniert bewährte Wafer-Bilderfassungstechnologien mit fortschrittlichen Fehlererkennungs- und Klassifizierungsalgorithmen und bietet Anwendern ein leistungsstarkes Werkzeug zur Fehleranalyse. ICOS CI-T130 System ist mit fortschrittlichen optischen Bildgebungssystemen ausgestattet, die RGB-Lichtquellen (rot, grün und blau) für maximale Bildklarheit verwenden. Dies ermöglicht die hochauflösende Bildaufnahme von 2D-Oberflächen- und 3D-Volumeneigenschaften von Wafern und testet Windows mit Klarheit und Genauigkeit. Darüber hinaus verfügt CI-T130 über einen automatisierten Aligner, der eine präzise Positionierung von Masken oder Wafern gewährleistet und eine präzise Scan- und Fehlererkennung ermöglicht. KLA/ICOS CI-T130 Einrichtungen verfügen über die gängigsten Bilderkennungstechniken, die eine schnelle und genaue Erkennung von Fehlern ermöglichen. Dieses Gerät verwendet ausgefeilte Fehlerklassifizierungsalgorithmen, kombiniert mit Mustererkennungsfunktionen, um eine Vielzahl von Fehlertypen zu identifizieren, zu klassifizieren und zu speichern. KLA CI-T130 Maschine ist ferner in der Lage, detaillierte 3D-Fallprüfung und Analyse von Produktfehlern bereitzustellen. ICOS CI-T130 ermöglicht eine schnelle Datenabtastung und -verarbeitung mit einer Akquisitionszeit von nur 25 Sekunden für einen 4 "-Wafer. Diese beeindruckende Durchsatzrate ermöglicht es Benutzern, schnell große Datenmengen für die nachgelagerte Analyse mit minimalen Ausfallzeiten zu sammeln. Darüber hinaus erfordert der Zugriff auf energiesparende Funktionen wie den automatischen Schlafmodus einen minimalen Energieverbrauch, wenn er nicht verwendet wird. CI-T130 ist eine ideale Lösung für Hersteller, die eine branchenführende Fehlererkennungsleistung erreichen möchten. KLA/ICOS CI-T130 asset nutzt hochpräzise Optik, fortschrittliche Bildgebungstechnologien und ausgefeilte Analysealgorithmen für maximale Produktivität und Genauigkeit. Dieses automatisierte Modell bietet eine hervorragende Leistung sowohl in seinen bildgebenden Funktionen als auch in seinen Fehleranalyse-Algorithmen für beispiellose Fehleranalysegeschwindigkeit und -genauigkeit.