Gebraucht KLA / TENCOR 0154568-000 #9165749 zu verkaufen

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ID: 9165749
Weinlese: 2010
Power line conditioner 2010 vintage.
KLA/TENCOR 0154568-000 Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind die führende automatisierte Inspektionsplattform für fortschrittliche Wafer-Prozessabläufe. Dieses Spitzensystem bietet modernste Leistung und eine schnelle und genaue Fehlererkennung über eine Vielzahl von Substratmaterialien. KLA 0154568-000 wird mit einem Lowlight CCD Entdecker, Eigentumsbildverarbeitungsalgorithmen und eine automatisierte im Brennpunkt stehende Flugzeugreihewerkzeuganordnungseinheit ausgestattet. Es ist in der Lage, hochgenaue Bilder von exakt gemusterten Defekten zu erfassen, die mit herkömmlichen optischen Techniken schwer zu beobachten sind. Das fortschrittliche Design von TENCOR 0154568-000 Maske & Wafer Inspektionsmaschine ermöglicht zuverlässige, hochauflösende Bildgebung auf einer Vielzahl von Substratmaterialien. Der hochmoderne CCD-Detektor erzeugt hochauflösende Bilder von kleinen Defekten auf Maske und Wafer, die eine unschlagbare Empfindlichkeit und Bildauflösung erfordern. Ausgefeilte Bildverarbeitungsalgorithmen ermöglichen die automatisierte Erkennung subtiler optischer Veränderungen sowie präzise gemusterter Defekte. Das automatisierte FPA-Werkzeugausrichtungswerkzeug von 0154568-000 sorgt für genaue Ergebnisse, indem das Bild des optischen Objekts jedes Sichtfeldes schnell, präzise und genau auf das Substrat ausgerichtet wird. Das innovative Tool bietet eine präzise Anleitung für die automatische Auswahl des Scanbereichs, der Auflösung, der Bildorientierung und anderer Parameter ohne Eingriff des Bedieners. Das Modell kann auch Bilder von dynamischen Ereignissen schnell und genau erfassen, da die FPA-Werkzeugausrichtung es dem Benutzer ermöglicht, mit minimalem Aufwand zwischen dem gewünschten Bildaufnahmemodus zu wechseln. KLA/TENCOR 0154568-000 Masken- und Wafer-Inspektionssystem wurde für eine breite Palette von Prozessen optimiert, einschließlich Photolithographie, Musterprüfung, Blind- und Dunkelfeldinspektion, OPC-Analyse, chromatische Variation, Partikelabschirmung und elektrische Fehlerinspektion. Das innovative Tool ermöglicht eine schnelle, präzise, automatische Mustererkennung, so dass Bediener Fehler und Anomalien schnell erkennen können, die sonst vermisst werden können. Die zuverlässigen und präzisen Ergebnisse der KLA 0154568-000 Einheit sind unerlässlich für qualitativ hochwertige Produkte und weniger zeitaufwendige Ertragsoptimierung. Abschließend ist TENCOR 0154568-000 Maske & Wafer Inspektionsmaschine eine leistungsfähige automatisierte Inspektionsplattform, die eine schnelle und genaue Erkennung von Defekten über eine Vielzahl von Substratmaterialien bietet. Die integrierten erweiterten Designelemente, proprietäre Bildverarbeitungsalgorithmen und das automatisierte Tool zur Ausrichtung von Fokusebenen-Arrays reduzieren die Einrichtungs- und Testzeit erheblich und fördern so mehr Genauigkeit und Effizienz. 0154568-000 ist eine ideale Lösung für Anwendungen mit hoher Auflösung und höchster Präzision.
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