Gebraucht KLA / TENCOR 2111 #9082266 zu verkaufen

ID: 9082266
Defect review system.
KLA/TENCOR 2111 ist eine führende Masken- und Waferinspektionsanlage der KLA Corporation, die mit Hilfe von Projektionsoptiken Defekte auf hochdichten integrierten Schaltungen erkennt. Das System verwendet fortschrittliche Berechnungstechniken, um beispiellose Genauigkeit bei der Erkennung von Defekten auf der Masken- und Waferschicht zu liefern. Das Gerät verwendet einen 180W Ultrakurzpulslaser, der mit einem patentierten ProScanIA™ Mikrooptikkopf eingesetzt wird, um hochauflösende 2D-Überlagerungen der Wafer- und Maskenoberflächen zu erhalten. Seine 5X-Projektionsoptik erzeugt ein hochgenaues Top-Down-Bild der Wafer- und Maskenoberflächen und offenbart Mängel mit einer sehr hohen Präzision. KLA 2111 zeigt auch eine Hochleistungsbildanschaffungsmaschine, die sowohl maskierte als auch demaskierte Bilder gewinnt und einen Gastgeber von Bildverarbeitungsalgorithmen durchführt. Diese Algorithmen ermöglichen die Erkennung und Klassifizierung von Musterdefekten in einem einzigen Inspektionszyklus, was die Inspektionszeit drastisch reduziert und die Ausbeute erhöht. Das Tool enthält proprietäre Software, die Kunden bei der Überprüfung und Bewertung ihrer Fehlerinspektionsergebnisse unterstützt. Die Software unterstützt eine Reihe quantitativer Metriken, mit denen Benutzer ihre Gerätestrukturen charakterisieren können. Zur Benutzerfreundlichkeit verfügt TENCOR 2111 auch über eine erweiterte grafische Benutzeroberfläche (GUI). Diese Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, schnell benutzerdefinierte Berichte mit hochrangigen Zusammenfassungen zu erstellen, ohne auf eine tiefgreifende Datenanalyse zu verzichten. Die Kombination aus hochauflösender Optik, fortschrittlichen Bildverarbeitungsfunktionen und intuitiver GUI schafft eine unschlagbare Masken- und Wafer-Inspektion. Dieses Modell bietet eine unglaublich detaillierte 2D-Analyse, ideal zur Identifizierung und Quantifizierung von maskierten und entlarvten Defekten. Es ist das perfekte Werkzeug für Halbleiterhersteller und Ingenieure, um den Ertrag zu maximieren und kritische Probleme frühzeitig im Produktdesign-Lebenszyklus zu identifizieren.
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