Gebraucht KLA / TENCOR 2131 #293752263 zu verkaufen

KLA/TENCOR 2131 ist ein Gerät zur visuellen Inspektion von Halbleitermasken und Wafern und bietet umfassende Fehlerinspektionsmöglichkeiten mit einer höheren Genauigkeit als herkömmliche Methoden. Das Gerät verfügt über eine breite Palette von Funktionen und Anwendungen, die auf spezifische Anforderungen zugeschnitten werden können, so dass es ein unverzichtbares Werkzeug in der Halbleiterherstellung ist. Das System verwendet patentierte Schattentechnologie, die Sensoren verwendet, um das Vorhandensein von Defekten in Halbleitermasken und Wafern zu erkennen. Es wendet dann einen Algorithmus an, um die genaue Position und Größe jedes Fehlers zu bestimmen. Während des Betriebs kann das Gerät Kratzer, Partikel, Hohlräume, Ungleichförmigkeiten und andere Verunreinigungen erkennen. Darüber hinaus kann die Maschine für jede Art von Defekt die Farbe und Helligkeit der Oberfläche sowie die Größe des Defekts bestimmen. Mit dieser Information markiert das Werkzeug mögliche Fehler aus dem Wafer oder der Maske zur weiteren Untersuchung. Neben der Fehlererkennung bietet das Asset auch eine Vielzahl von Bildgebungsoptionen für Anwendungen wie Overlay, Ebenheit und Linienbreitenmessungen. Das Modell verfügt über eine Software-Suite, die einen 3D-Viewer enthält, so dass der Benutzer mehrere Bilder gleichzeitig anzeigen und leicht durch sie navigieren kann. Es hat auch die Fähigkeit, Materialfehler im Wafer zu erkennen, wie Diamantgraben, Schritterkennung und vieles mehr. Das Gerät selbst ist in einem sicheren, umweltgesteuerten Schrank untergebracht und besteht aus einem hochauflösenden farbigen LCD-Display und einer optischen Sensorkopfbaugruppe. Der optische Kopf ist über 360 Grad mit einer Winkelauflösung von 0,001 Grad drehbar. Das System verfügt auch über LEDs und Prismen, um zwischen Funktionen zu unterscheiden, sowie mehrere eingebaute Filter, um die Lichtintensität anzupassen oder das Spektrum des Bildes zu ändern. Die UCK 2131 ist eine äußerst zuverlässige und genaue Einheit zur Erkennung und Beurteilung von Defekten an Halbleitermasken und Wafern. Seine fortschrittlichen Algorithmen, kombiniert mit überlegenen optischen Komponenten, bieten unübertroffene Präzision und Leistung. Die Maschine ist auch einfach zu bedienen und kommt mit mehreren benutzerfreundlichen Software-Anwendungen. Abschließend ist es ein unschätzbares Werkzeug für die Halbleiterherstellung und ist eine ideale Wahl für Qualitätskontrollanwendungen.