Gebraucht KLA / TENCOR 2132 #192495 zu verkaufen

KLA / TENCOR 2132
ID: 192495
Brightfield defect wafer inspection system.
KLA/TENCOR 2132 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für den Einsatz in der Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Es bietet allgemeine Fehlerinspektion, anspruchsvolle automatisierte Inspektion (CAI) komplexer Fehlertypen sowie Überprüfungsfunktionen für ultimative Fehlerbestätigung. KLA 2132 bietet ein optisches Inspektionssystem mit 6-Zoll (150 mm) Inspektionsfähigkeit und schnelles Umschalten zwischen mehreren Wafergrößen. Es ist in der Lage, 100 μ m Sichtfeld (FOV) mit einer Auflösung von etwa 0,2 μ m zu liefern, was bedeutet, dass es sogar Nanometer-Skalendefekte mit Genauigkeit und Präzision erkennen kann. Das Gerät verfügt auch über erweiterte Fehlererkennungsalgorithmen, die sowohl Partikel- als auch optische Fehlertypen wie Brücke, Kratzer, Risse, Partikel, Nadelöcher unter anderem effektiv identifizieren können. Die Maschine verwendet eine proprietäre optische Scan-Architektur, um Bilder schnell und genau zu erfassen und zu verarbeiten. Dies bietet eine mehr als ausreichende Schärfentiefe, um eine Vielzahl von Fehlertypen zu untersuchen. Die Bilder werden dann mit Referenzbildern verglichen, um auf fehlerbezogene Variationen zu überprüfen. Darüber hinaus umfasst TENCOR 2132 Fehlerinspektionsfunktionen wie Fehlerklassifizierung, automatische Fehlererkennung, Fehleranalyse, Fehlerüberprüfung und Mängelbeseitigung. Das Tool enthält eine benutzerfreundliche Steuerungssoftware, die dem Benutzer klare, detaillierte Ergebnisse seiner Inspektionen liefert. Es hat auch kundenspezifische „Best-in-Class“ -Werkzeuge für verbesserte Bildvisualisierung und -analyse. Die Schnittstelle ermöglicht es dem Bediener, einfach Parameter festzulegen, Ergebnisse anzuzeigen und die Analyse schnell zu verfeinern. 2132 ist ein äußerst vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug zur Untersuchung von Oberflächen auf mögliche Defekte. Seine fortschrittlichen Algorithmen und optischen Ressourcen ermöglichen es ihm, nanoskalige Defekte mit Genauigkeit und Präzision zu erkennen und dem Benutzer klare, leicht verständliche Ergebnisse zu liefern. Das Modell ist eine ideale Lösung für jeden Hersteller, der eine qualitativ hochwertige Inspektion und Fehleranalyse benötigt.
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