Gebraucht KLA / TENCOR 2132 #9009026 zu verkaufen
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ID: 9009026
Wafergröße: 8"
Wafer defect inspection review system, 8"
System controller
Power module.
KLA/TENCOR 2132 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die zur Inspektion und Analyse von stark repetitiven und komplexen Wafer- und Maskenstrukturen entwickelt wurde. KLA 2132 System verfügt über präzise, effiziente Masken- und Wafer-Inspektion, die Herstellung von fortschrittlichen elektronischen Geräten mit erstklassigen Erträgen ermöglicht. Das Gerät besteht aus einem rauscharmen optischen Sensor, der Mikron-Pegelmerkmale analysieren kann. Es enthält auch einen hochauflösenden Scankopf zur Inspektion von Strukturen mit unterschiedlichen Markierungen und Mustern. TENCOR 2132 Maschine unterstützt eine breite Palette von Anwendungen, wie Fehlererkennung und Fehleranalyse, Makroinspektionen und Lückenüberprüfung. Es kann bis zu zwölf Fehler aus vier Arten von Strukturen gleichzeitig erkennen. Darüber hinaus können 2132 selbst die komplexesten Strukturen inspizieren, einschließlich mehrerer Schichten und Bildarrays. Das maßgeschneiderte, rauscharme optische Design des Werkzeugs ist in der Lage, latente Fehler oder kleine Chips zu erkennen, die mit herkömmlichen optischen Detektoren nicht identifiziert werden können. Der hochauflösende Scankopf bietet eine präzise und detaillierte Analyse von Strukturen und einen automatisierten Bildvergleich. Die Wafer-Level-Erkennungsfähigkeiten des Vermögenswertes sorgen für optimale Erträge. Das Modell enthält auch eine intuitive Benutzeroberfläche, die eine einfache und einfache Bedienung des Bedienfelds ermöglicht. Das Gerät verfügt über automatisierte Rezeptübertragungsfunktionen und wird mit zahlreichen Inspektionsrezepten und -operationen vorbeladen. Es verfügt außerdem über ein patentiertes Navigatorwerkzeug, das systematische und wiederholbare Inspektionen ermöglicht. KLA/TENCOR 2132 unterstützt auch erweiterte Berichts- und Filterfunktionen. Es ist mit einer ausführlichen Bildüberprüfungssoftware ausgestattet, die eine tiefgehende Bildanalyse im Roh- oder Rasterformat ermöglicht. Es unterstützt volle Auflösung, Fehlerklassifizierung und maximale Kontrasteinstellungen. Das System verfügt auch über erweiterte Datenanalyse- und Berichtsfunktionen, die die Genauigkeit der Ergebnisse deutlich verbessern. Die KLA 2132 ist für die anspruchsvollsten Anforderungen an die Masken- und Waferinspektion konzipiert und liefert hervorragende Qualitätssicherungsergebnisse. Mit seinen fortschrittlichen optischen und Defektdetektionssystemen und der benutzerfreundlichen Schnittstelle ist das Gerät TENCOR 2132 ein zuverlässiges und effizientes Werkzeug zur überlegenen Geräteherstellung. Es ist eine ideale Wahl für den Einsatz in der heutigen hochentwickelten Halbleiterindustrie.
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