Gebraucht KLA / TENCOR 2132 #9181746 zu verkaufen

KLA/TENCOR 2132 ist ein High-End-Masken- und Wafer-Inspektionsgerät, das entwickelt wurde, um Halbleitermasken- und Wafer-Musterfehler durch optische Erkennung und Bildanalyse schnell und genau zu überprüfen. Es ist in der Lage, verschiedene Arten von Musterdefekten zu erkennen, von Ungenauigkeiten in Linienbreiten, Mustern und Kombinationen bis hin zur Anwesenheit von Fremdstoffen, wie Partikeln, Rückständen und Kratzern. Dieses System nutzt eine fortschrittliche Beleuchtungseinheit und eine von der KLA entwickelte Bilderkennungstechnologie. Die Beleuchtungsmaschine verwendet für die Bildaufnahme eine Kombination aus niederschwelligen und hochintensiven Lichtquellen sowie zusätzliche Beleuchtungsquellen, die es dem automatisierten Fokusmechanismus ermöglichen, trotz Leistungsschwankungen in den Substraten scharfe Bilder perfekt zu erfassen. Auch die Bildanalyse- und Identifikationssoftware ist hochentwickelt. Eine Kombination von Algorithmen und Analysetechniken, wie Kantenerkennung, Intensitätsmessungen und Filteroperationen werden verwendet, um Fehler mit hoher Genauigkeit zu identifizieren. Dieses Tool kann Fehler von der gesamten Wafer- oder Maskenzuordnung bis hin zur Einzelpixelauflösung identifizieren. Es ist auch in der Lage, auch geringe Veränderungen in den strukturierten Bereichen genau zu erkennen. Die Software verfügt auch über eine Reihe von Tools zur Visualisierung, Analyse und Berichterstattung der Inspektionsergebnisse. So können Anwender ihre Erkenntnisse schnell und einfach mit anderen Mitgliedern des Halbleiterherstellungsprozesses teilen. Das Asset enthält auch eine breite Palette von erweiterten Parametern, die entsprechend den Benutzeranforderungen angepasst werden können. KLA 2132 ist ein sehr zuverlässiges, vielseitiges Masken- und Wafer-Inspektionsmodell. Es liefert genaue und zuverlässige Ergebnisse, ohne dass manuelle Prozesse erforderlich sind. Die erweiterten Erkennungs- und Analysefunktionen sowie die leistungsstarken Visualisierungs- und Berichtsfunktionen machen es zu einer idealen Lösung für Halbleiterhersteller, die Musterfehler in ihren Produkten identifizieren und beseitigen möchten.