Gebraucht KLA / TENCOR 2318 #9189833 zu verkaufen

KLA / TENCOR 2318
ID: 9189833
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 2318 ist ein automatisiertes Masken- und Wafer-Inspektionssystem zur schnellen Erkennung von Defekten und Herstellungsfehlern in Halbleiterchips. Dieses Inspektionssystem basiert auf der Hellfeldmikroskopie, einer Form der digitalen Mikroskopie, die optisch gegen einen weißen oder anderen hellen Hintergrund beleuchtet wird, um den Kontrast zu verbessern. KLA 2318 kann Chips bis zu 2400x vergrößern, mit großer Genauigkeit durch den integrierten Bildsensor und Prozessoren. Seine helle, gleichmäßige Beleuchtung und hohe Vergrößerungsmöglichkeiten sorgen dafür, dass alle Defekte sowohl in der Maske als auch in der Scheibe leicht sichtbar sind. Darüber hinaus verfügt TENCOR 2318 über eine umfangreiche Bibliothek mit Fehleralgorithmen, die es ermöglicht, bestimmte Fehler genauer zu klassifizieren als manuelle Inspektion. 2318 ist in der Lage, das Sichtfeld und die Bildgröße während des Inspektionsprozesses automatisch anzupassen, was eine gründliche Überprüfung komplexer Merkmale ermöglicht. Dieses einstellbare Sichtfeld ermöglicht auch einen schnellen Wechsel von offenen zu geschlossenen Maskenbildern. Darüber hinaus verfügt KLA/TENCOR 2318 über ein optisches Mikroskop mit einer eingebauten motorisierten Stufe, um eine präzise Positionierung und Manipulation des Wafers zu erleichtern und sicherzustellen, dass jede Oberfläche des Chips überprüft werden kann. UCK 2318 verfügt auch über Multi-Channelvideo-Management, so dass Benutzer viele Bilder auf mehreren Kanälen und Unterkanälen anzeigen und überprüfen können. TENCOR 2318 bietet zudem eine verbesserte Produktivität mit außergewöhnlich schneller Rüstzeit und einer Vielzahl fortschrittlicher Bildanalysefunktionen sowie ein 3D-Betrachtungswerkzeug für die detailliertesten Inspektionen. Insgesamt ist 2318 ein leistungsstarkes Werkzeug für die Inspektion von Masken und Wafern. Es ermöglicht eine schnelle und genaue Auswertung komplexer Eigenschaften in Chips sowie eine Vielzahl fortschrittlicher Inspektionsmöglichkeiten. Durch die Kombination von hochmoderner Brightfield-Mikroskopie mit fortschrittlicher Bildanalyse ist KLA/TENCOR 2318 eine Bereicherung für jede F & E-Abteilung oder Fertigungsstätte.
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