Gebraucht KLA / TENCOR 2365 #293606937 zu verkaufen

KLA/TENCOR 2365 Maske und Wafer Inspection Equipment ist ein führendes bildgebendes Netzwerk, das sich auf Halbleiterscheiben-, Masken- und Geräteprüfung konzentriert. Einzigartig konstruiert, zeichnet sich das System durch Fehlerinspektion, 3D-Topographie-Inspektion, kritische Maßmessung und andere anspruchsvolle OEM-Anwendungen aus. KLA 2365 liefert hochwertige Bildgebung bis zu einer großen aktiven Oberflächengröße von 8 „x 10“ (20 cm x 25 cm) bei Nanometerauflösungen. Es verfügt auch über Wafer- und Flachbildschirm-Fehleranalyse, einschließlich Bildätzung und Echtzeit-Überprüfung Inspektion. Das Gerät nutzt große Sichtfelder, Dynamikbereiche und fortschrittliche Software, um Fehler effektiv zu lokalisieren und zu identifizieren. Die patentierte automatisierte Fehleranalysetechnologie macht es einfach, sowohl zufällige als auch strukturierte Elemente auf dem Wafer zu identifizieren. Mit einer einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche können Bediener schnell durch die Maschine navigieren und den Workflow effizient verwalten. Der revolutionäre Real-Time Review (RTR) Modus präsentiert alle defekten Bilder im Inlinebetrieb mit einer Geschwindigkeit von bis zu 1280 Wafern pro Stunde. Mit leistungsstarker Bildkomprimierung reduziert das Tool den Datenspeicherbedarf und bietet gleichzeitig eine effiziente Umgebungssteuerung. TENCOR 2365 nutzt die neuesten Technologien der Streu- und Hellfeldbildgebung. Eine 200 Watt ORION (Modular Scatterometry) Lichtquelle bietet die höchstauflösende Bildgebungs- und Charakterisierungsfähigkeit. Die Beleuchtungskomponente kann auch angepasst werden, um spezifische Anwendungen mit UV-, IR- und gepulsten Laserlichtquellen zu erfüllen. Das fortschrittliche 2365-Wafer-Inspektionsnetzwerk bietet eine schnelle und genaue Erkennung von Oberflächenfehlern und stellt sicher, dass Wafer fehlerfrei und von höchster Qualität sind. Das intelligente Modell optimiert Auflösung, Kontrast und Fokus für jede Probe und stellt sicher, dass jeder Fehler richtig erkannt wird. Mit KLA/TENCOR 2365 können Bediener Probleme problemlos beheben und schnell Änderungen vornehmen. Die Ausrüstung erweist sich als ideale Wahl für anspruchsvolle Anwendungen, da sie Makrofehler, Spankanten, Partikel, Kratzer und andere unterschiedliche Arten von Defekten schnell und genau erkennt. Aus diesem Grund setzen Halbleiterchipmacher weltweit auf KLA 2365 Maske und Wafer Inspection System.