Gebraucht KLA / TENCOR 2552 #293659802 zu verkaufen

KLA / TENCOR 2552
ID: 293659802
Defect measuring instrument.
KLA/TENCOR 2552 ist eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für eine Vielzahl von Halbleiteranwendungen entwickelt wurde. Es wurde mit einer Architektur mit hohem Durchsatz entwickelt, um schnelle und zuverlässige Inspektionssysteme zu ermöglichen. KLA 2552 wird mit einem automatisierten Hochleistungsbildaufbereitungssystem ausgestattet, um High-Definition-Bildaufbereitung mit Geschwindigkeiten bis zu 273 Reihenbilder/Sekunde und Hafen-zu-Hafen-Bildübertragungsgeschwindigkeiten bis zu 546 Mbps zu ermöglichen. Das Gerät basiert auf einem CMOS-Bildsensor mit einer 12-Bit-3-Tap-Line-Scan-Kamera und einem 256-Grau-Level-Digitalisierer, der in der Lage ist, kleine Funktionen genau zu überprüfen. Darüber hinaus ist die Maschine so konzipiert, dass sie an eine Vielzahl von bildgebenden Anforderungen anpassbar und konfigurierbar ist und mit minimalen Rüst- und Wartungsanforderungen einfach installiert und bedient werden kann. Das Tool ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, einschließlich Multi-Mode-Hintergrundunterdrückung, automatisierte Fehlerklassifizierung Methodik, breites Feld-of-View-Fehler-Detailerfassung und variable Feld-of-View-Mikroskop-Bildgebung. Mit TENCOR 2552 können Untersuchungsmethoden wie Fehlervisualisierung, Fehlerabstoßung, Hot-Spot-Datenwiederherstellung, gemustertes Fehlermanagement und zusätzliche Methoden zur Erhöhung der Zuverlässigkeit und Konsistenz von Bildgebung und Inspektion eingesetzt werden. 2552 bietet auch eine Reihe ergonomischer Funktionen wie Tilt-up-Design, ein leicht zugängliches Inspektionsfenster und ergonomischen Joystick mit einer bequemen Handgelenkstütze, um Ermüdung zu reduzieren. Darüber hinaus verfügt das Asset über eine grafische Benutzeroberfläche, die die Benutzerfreundlichkeit verbessert und eine intuitive Navigation der Steuerelemente und Einstellungen ermöglicht. KLA/TENCOR 2552 verfügt über eine Vielzahl von Fähigkeiten, die es für Halbleiteranwendungen gut geeignet machen. Dazu gehören Sub-Pixel-Fehlererkennung und automatisierte Fehlerverfolgung, integrierte Fehlerdatenbank und -analyse sowie eine Vielzahl weiterer Funktionen. Darüber hinaus kombiniert KLA 2552 außergewöhnliche Auflösung, Geschwindigkeit und Robustheit, um es zu einer der besten Optionen für die Masken- und Waferinspektion zu machen.
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