Gebraucht KLA / TENCOR 2830 #9401094 zu verkaufen

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ID: 9401094
Weinlese: 2010
System PHX DF 2.0 2010 vintage.
KLA/TENCOR 2830 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung ist eine umfassende Lösung für Top-Down-Echtzeit-Wafer-Ebene Inspektion und Fehlererkennung Anwendungen. Das System kombiniert große Dynamik-Bildgebung mit kleinen Stellflächen für eine effiziente Überprüfung von Fehlerstandorten. Das Gerät ist für die Prüfung und Analyse des Dynamikbereichs und der Partikelcharakteristik von Waferstrukturen konzipiert, einschließlich Merkmalsgrößen von Mikrometern bis zu Submikronen. Darüber hinaus kann die Maschine auch für andere kritische Wafer-Level-Tests wie Überbrückung, Ätzen und Prozesscharakterisierung eingesetzt werden. Das KLA 2830-Tool verwendet eine FEA-Technologie (Field Emitters Array), um hochauflösende Bilder mit einer maximalen Auflösung von 64 um/Pixel zu liefern. Die Anlage bietet auch eine Vielzahl von Leistungsoptionen, wie Vollbereichseigenschaften, Top-Down-Bildgebung, Partikelerkennung und Messtechnik. Darüber hinaus verwendet das Modell einzigartige Lichtdurchlässigkeitstechnologie, um Partikel zu fotografieren und zu detektieren, so dass der Benutzer Partikel bis zu 0,2 um detektieren kann. TENCOR 2830 enthält auch fortschrittliche Software, die Anwendern automatisierte und verbesserte Testfunktionen bietet. Zu den Funktionen gehören eine adaptive Datentrennung und -sammlung, um eine effiziente Datenüberprüfung zu ermöglichen. Weitere bemerkenswerte Softwarefunktionen sind eine leistungsstarke Suchmaschine, Fehlerklassifizierung und Anmerkung, detaillierte statistische Datenanalyse und visuelle Berichterstattung. Für eine benutzerfreundliche Bedienung der Geräte und eine robuste Leistung verfügt das 2830-System über eine intuitive interaktive grafische Benutzeroberfläche. Die Schnittstelle ermöglicht es Benutzern, verschiedene Geräteeinstellungen zu überprüfen und Daten schnell zu analysieren. Die Maschine bietet Benutzern auch die Möglichkeit, Einstellungen sowie Backup-Daten schnell zu speichern und abzurufen. KLA/TENCOR 2830 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Tool bietet die besten statischen und dynamischen Mess- und Analysefähigkeiten. Seine geringe Stellfläche und sein großer Dynamikbereich machen es zu einer idealen Lösung für die Großserienfertigung und Inspektion von Wafern. Darüber hinaus ist es mit seinen erweiterten Softwarefunktionen und der intuitiven Benutzeroberfläche ein leistungsfähiges und zuverlässiges Tool für Tests und Analysen auf Waferebene.
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