Gebraucht KLA / TENCOR Archer 100 AIM #9261844 zu verkaufen

KLA / TENCOR Archer 100 AIM
ID: 9261844
Wafergröße: 12"
Overlay metrology system, 12".
KLA/TENCOR Archer 100 AIM ist eine in der Halbleiterindustrie verwendete Masken- und Waferinspektionsanlage, die es Anwendern ermöglicht, den Grad der Fehlererkennung und -automatisierung drastisch zu erhöhen. Das System beinhaltet sowohl automatische Wafer-Inspektion als auch Musterfilmscanning und bietet die gleiche überlegene Leistung, die mit der KLA-Produktfamilie verbunden ist. KLA Archer 100 AIM verfügt über eine robuste Bühne und einen großen vertikalen Verfahrbereich, der bis zu 300mm Substratgrößen aufnehmen kann. Auf diese Weise können Benutzer eine Vielzahl von Masken ohne manuellen Eingriff schnell überprüfen. Das Gerät verwendet fortschrittliche Algorithmen, um selbst kleinste Fehler zu identifizieren, die typischerweise von anderen Arten von Inspektionen verfehlt werden. Es ist auch in der Lage, Defekte so klein wie 2mm und so tief wie 30um in gemusterten Abbildungsfilmen zu erkennen und abzubilden. TENCOR ARCHER 100AIM verfügt zudem über eine patentierte Anordnung adaptiver Optik und bis zu 9 Lichtquellen, die eine verbesserte Kontrolle und Genauigkeit bei der Erkennung und Abbildung von Defekten ermöglichen. Es bietet einstellbare Weißabgleich, Intensität und Kontrast Einstellungen, um eine effektive Beleuchtung aller Zieloberflächen zu ermöglichen. Zusätzlich enthält es einen Autoscanning-Vorschaumodus, der Fehler schnell isolieren und identifizieren kann, bevor sie abgebildet werden. ARCHER 100AIM verfügt zudem über erweiterte Software-Tools zur Fehlerüberprüfung, um Fehler zu visualisieren, zu isolieren und zu quantifizieren. Es bietet sowohl ein On-Screen-Display als auch eine „Defect Map“ -Funktion, mit der Fehler über mehrere Prüfpunkte hinweg analysiert werden können. Seine Hochgeschwindigkeitsbildfestnahmenfähigkeit unterstützt auch schnellere Bildaufbereitung von Defekten und genauere Ergebnisse als andere Technologien. KLA ARCHER 100AIM ist eine ideale Lösung für die Fehlererkennung und Qualitätssicherung in der Halbleiterindustrie. Diese fortschrittliche Inspektionsmaschine bietet umfassende Fehlererkennungs-, Bildgebungs- und Überprüfungsfunktionen und ist damit eine zuverlässige und kostengünstige Option für unzählige Anwendungen.
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